[实用新型]一种半导体集成电路的测试装置

权利要求书

1.一种半导体集成电路的测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的正面嵌设有控制按钮，所述底座(1)顶部的四周均栓接有支撑杆，且支撑杆的顶部栓接有固定箱(2)，所述固定箱(2)内腔顶部右侧的中心处开设有通槽，所述固定箱(2)正面的右侧通过螺栓螺纹连接有维修盖板，所述底座(1)顶部的中心处放置有半导体集成电路(3)，所述固定箱(2)的内腔设置有测试机构(4)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路的测试装置，其特征在于：所述测试机构(4)包括马达(41)、转轴(42)、齿轮(43)、齿条板(44)、连接座(45)、连接杆(46)、活动轴(47)、固定板(48)、滑杆(49)和测试头(410)，所述固定箱(2)背面的右侧栓接有马达(41)，所述马达(41)的输出轴贯穿固定箱(2)并栓接有转轴(42)，所述转轴(42)的中心处栓接有齿轮(43)，所述齿轮(43)的左侧啮合有与通槽配合使用的齿条板(44)，所述齿条板(44)的底部栓接有连接座(45)，所述连接座(45)的左侧活动连接有连接杆(46)，所述连接杆(46)的中心处转动连接有活动轴(47)，所述活动轴(47)的正面与背面分别与固定箱(2)内腔的正面和背面栓接，所述连接杆(46)远离活动轴(47)的一侧活动连接有固定板(48)，所述固定板(48)底部的右侧竖向栓接有滑杆(49)，所述滑杆(49)的底部栓接有测试头(410)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路的测试装置，其特征在于：所述固定箱(2)内腔左侧的中心处竖向栓接有滑柱(5)，所述滑柱(5)的表面滑动连接有滑套(6)，所述滑套(6)的右侧与固定板(48)的左侧栓接。

4.根据权利要求3所述的一种半导体集成电路的测试装置，其特征在于：所述滑柱(5)的表面套设有减震弹簧，且减震弹簧的外侧分别与滑套(6)和固定箱(2)内腔底部的内侧栓接。

5.根据权利要求2所述的一种半导体集成电路的测试装置，其特征在于：所述固定板(48)和连接座(45)的外侧均分别粘贴有第一防护棉和第二防护棉，且第二防护棉的横截面积小于第一防护棉的横截面积，所述测试头(410)的表面粘贴有防护套。

6.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路的测试装置，其特征在于：所述底座(1)顶部两侧的中心处均栓接有放置板，且放置板的中心处嵌设有螺纹筒(7)，所述螺纹筒(7)的内腔螺纹连接有螺纹杆，且螺纹杆的外侧栓接有旋柄，且螺纹杆的内侧栓接有限位座(8)，所述限位座(8)相向的一侧粘贴有第三防护棉，且第三防护棉远离限位座(8)的一侧粘贴有防护垫。

7.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路的测试装置，其特征在于：所述固定箱(2)内腔右侧的正面和背面均竖向开设有滑槽(9)，所述滑槽(9)的内腔滑动连接有滑块(10)，所述滑块(10)远离滑槽(9)的一侧与连接座(45)的右侧栓接。