[实用新型]一种超声检测用缺陷测量尺有效

专利信息
申请号: 202022690552.3 申请日: 2020-11-19
公开(公告)号: CN213396859U 公开(公告)日: 2021-06-08
发明(设计)人: 赵阳;王飞;王理博;张喜;魏亚兵;刘璐 申请(专利权)人: 西安热工研究院有限公司;华能集团技术创新中心有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02;G01B5/004;G01N29/04;G01N29/22
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 闵岳峰
地址: 710048 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 超声 检测 缺陷 测量
【权利要求书】:

1.一种超声检测用缺陷测量尺,其特征在于,包括探头卡箍(1)、缺陷测长尺(2)和缺陷定位尺(3);其中,

缺陷测长尺(2)和缺陷定位尺(3)上均开设有刻度,缺陷定位尺(3)的一端与探头卡箍(1)开口侧相对的一侧活动连接,另一端为自由端,缺陷测长尺(2)与缺陷定位尺(3)十字交叉布置,且缺陷测长尺(2)和缺陷定位尺(3)均能沿着对方的轴向相对移动。

2.根据权利要求1所述的一种超声检测用缺陷测量尺,其特征在于,工作时,探头卡箍(1)能够与探头进行装配或拆卸。

3.根据权利要求1所述的一种超声检测用缺陷测量尺,其特征在于,探头卡箍(1)在面向探头前沿侧的外表面留有凹槽。

4.根据权利要求1所述的一种超声检测用缺陷测量尺,其特征在于,缺陷定位尺(3)的一端通过旋转定位柱与探头卡箍(1)开口侧相对的一侧活动连接。

5.根据权利要求4所述的一种超声检测用缺陷测量尺,其特征在于,旋转定位柱包括缺陷定位尺与探头卡箍右侧旋转定位柱(5)和缺陷定位尺与探头卡箍左侧旋转定位柱(6)。

6.根据权利要求1所述的一种超声检测用缺陷测量尺,其特征在于,缺陷定位尺(3)的零点刻度位于探头卡箍(1)与探头接触面。

7.根据权利要求1所述的一种超声检测用缺陷测量尺,其特征在于,缺陷定位尺(3)中心点留有刻度,用于对缺陷端点位置进行直接测量。

8.根据权利要求1所述的一种超声检测用缺陷测量尺,其特征在于,缺陷测长尺(2)和缺陷定位尺(3)通过缺陷测长尺与缺陷定位尺的限位块(4)装配在一起。

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