[实用新型]一种半导体性能测试用双头探针

说明书

本实用新型公开了一种半导体性能测试用双头探针，包括连接套，所述连接套的一侧外壁上焊接有斜套，且连接套的一侧内壁上开设有螺纹槽，所述连接套的一侧内壁上靠近螺纹槽的一侧位置处焊接有固定盘，所述连接套的内部设置有探针套，所述探针套的一端焊接有螺纹头，且探针套的内部滑动连接有第一滑座，所述第一滑座的一侧外壁上焊接有探针杆。该半导体性能测试用双头探针，通过连接套和探针套的相互配合，并在螺纹头与螺纹槽的螺纹旋合连接，可以便捷的将探针套内的探针杆拆卸取出，一方面便于对磨损的探针杆进行更换，提高探针杆更换的便捷，另一方面便于对拆卸后的探针充分清洗，保证探针内部清洗的效果。

技术领域

本实用新型涉及探针技术领域，具体为一种半导体性能测试用双头探针。

背景技术

探针是用于测试PCBA的一种测试针，表面镀金，内部有平均寿命3万-10万次的高性能弹簧。

但是，现有的半导体性能测试用双头探针大多不便于拆卸，这样在受到磨损或者清洗时，不便于将双头探针进行更换和清洗，拆卸不够便捷，现有的半导体性能测试用双头探针内部弹簧弹性回弹力是固定的，难以根据需求进行调节。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体性能测试用双头探针，以解决上述背景技术中提出现有的半导体性能测试用双头探针大多不便于拆卸，这样在受到磨损或者清洗时，不便于将双头探针进行更换和清洗，拆卸不够便捷，现有的半导体性能测试用双头探针内部弹簧弹性回弹力是固定的，难以根据需求进行调节的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体性能测试用双头探针，包括连接套，所述连接套的一侧外壁上焊接有斜套，且连接套的一侧内壁上开设有螺纹槽，所述连接套的一侧内壁上靠近螺纹槽的一侧位置处焊接有固定盘，所述连接套的内部设置有探针套，所述探针套的一端焊接有螺纹头，且探针套的内部滑动连接有第一滑座，所述第一滑座的一侧外壁上焊接有探针杆，所述探针杆上远离第一滑座的一端焊接有探针头，且探针杆相邻于第一滑座的一侧外壁上焊接有滑轨，所述探针套的内部靠近第一滑座的一侧位置处设置有弹簧，且探针套的内部靠近弹簧的一侧位置处滑动连接有第二滑座，所述第二滑座上远离弹簧的一侧外壁上焊接有内杆，所述内杆的外部套设有外杆，所述外杆的一侧外壁上通过螺纹旋合连接有紧固螺母，所述探针套的一侧内壁上靠近滑轨的一侧位置处开设有滑槽。

优选的，所述斜套共设置有两个，且两个斜套对称设置在连接套的外壁上。

优选的，所述滑轨嵌入在滑槽的内部，且滑轨与滑槽滑动连接。

优选的，所述螺纹槽与螺纹头通过螺纹旋合连接。

优选的，所述滑轨和探针套均共设置有四个，且四个滑轨和四个探针套分别对称设置在探针杆的一侧外壁上和探针套的一侧内壁上。

优选的，所述斜套为空心锥台体结构。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该半导体性能测试用双头探针，通过连接套和探针套的相互配合，并在螺纹头与螺纹槽的螺纹旋合连接，可以便捷的将探针套内的探针杆拆卸取出，一方面便于对磨损的探针杆进行更换，提高探针杆更换的便捷，另一方面便于对拆卸后的探针充分清洗，保证探针内部清洗的效果，通过调节外杆和内杆的长度，可以改变弹簧的弹性回弹力，保证双头探针的弹性适应需求。

附图说明

图1为本实用新型正视图；

图2为本实用新型探针套内部结构示意图；

图3为本实用新型探针套剖视图；

图4为本实用新型探针套侧视图；

图5为本实用新型连接套内部结构示意图。