[实用新型]一种用于高耐压整流桥堆的封装装置有效
| 申请号: | 202020056072.9 | 申请日: | 2020-01-10 |
| 公开(公告)号: | CN211578698U | 公开(公告)日: | 2020-09-25 |
| 发明(设计)人: | 夏小明 | 申请(专利权)人: | 东莞市柏尔电子科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/52 | 分类号: | H01L21/52;H01L21/60 |
| 代理公司: | 东莞市启信展华知识产权代理事务所(普通合伙) 44579 | 代理人: | 冯蓉 |
| 地址: | 523000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 耐压 整流 封装 装置 | ||
1.一种用于高耐压整流桥堆的封装装置,包括支撑设备(1)和封装机构(2),支撑设备(1)的内腔安装有封装机构(2),其特征在于:所述支撑设备(1)包括支撑柱(11)、加工台(12)、置料盒(13)、侧安装柱(14)、顶盖(15)和移动盒(16),所述支撑柱(11)的上端安装有加工台(12),所述加工台(12)的底端安装有置料盒(13),所述加工台(12)的上端两侧安装有侧安装柱(14),所述侧安装柱(14)的上端安装有顶盖(15),所述顶盖(15)的下端安装有移动盒(16),所述加工台(12)的上端安装有封装机构(2),所述封装机构(2)包括平移装置(21)、放置板(22)、加工机构(23)和串联机构(24),所述平移装置(21)的上端安装有放置板(22),所述放置板(22)的上端安装有加工机构(23),所述移动盒(16)的下端安装有串联机构(24)。
2.根据权利要求1所述的一种用于高耐压整流桥堆的封装装置,其特征在于:所述移动盒(16)包括盒体(161)和内置槽(162),所述盒体(161)的内腔开设有内置槽(162)。
3.根据权利要求1所述的一种用于高耐压整流桥堆的封装装置,其特征在于:所述加工机构(23)包括加工盒(231)、下滑槽(232)、安装边板(233)和放置盒(234),所述加工盒(231)的底端开设有下滑槽(232),所述加工盒(231)的侧端安装有安装边板(233),所述加工盒(231)的内腔安装有放置盒(234)。
4.根据权利要求1所述的一种用于高耐压整流桥堆的封装装置,其特征在于:所述串联机构(24)包括升降柱(241)、安装块(242)、侧接筒(243)、第一串联装置(244)、连接块(245)和第二串联装置(246),所述升降柱(241)的下端安装有安装块(242),所述安装块(242)的下端安装有第一串联装置(244),所述第一串联装置(244)的两端开设有侧接筒(243),所述第一串联装置(244)的下端安装有连接块(245),所述连接块(245)的下端安装有第二串联装置(246)。
5.根据权利要求4所述的一种用于高耐压整流桥堆的封装装置,其特征在于:所述第一串联装置(244)包括安装外壳(2441)、内接块(2442)、串接内板(2443)、衔接机构(2444)和连接筒(2445),所述安装外壳(2441)的内腔安装有内接块(2442),所述内接块(2442)的正面安装有串接内板(2443),所述串接内板(2443)的正面与连接筒(2445)通过衔接机构(2444)活动连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





