[发明专利]一种三维堆叠的扇出型芯片封装方法及封装结构有效

专利信息
申请号: 202011528251.9 申请日: 2020-12-22
公开(公告)号: CN112652542B 公开(公告)日: 2023-06-16
发明(设计)人: 张文斌 申请(专利权)人: 厦门通富微电子有限公司
主分类号: H01L21/48 分类号: H01L21/48;H01L21/60;H01L23/498
代理公司: 北京中知法苑知识产权代理有限公司 11226 代理人: 李明;赵吉阳
地址: 361012 福建省厦门市片区建港路*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 三维 堆叠 扇出型 芯片 封装 方法 结构
【权利要求书】:

1.一种三维堆叠的扇出型芯片封装方法,其特征在于,所述方法包括:

提供承载片,所述承载片包括沿其厚度方向相对设置的第一表面和第二表面,所述承载片是硅、玻璃、金属或有机基板材料的平板;

在所述承载片的第一表面形成金属通孔,并在所述金属通孔上形成第一焊球;

将第一芯片倒装在所述第一焊球上;

在所述承载片的第一表面形成第一胶层,所述第一胶层包覆所述第一芯片,以将所述第一芯片固定在所述承载片的第一表面;

在所述承载片的第二表面形成第一金属布线,所述第一金属布线与所述金属通孔电连接;

在所述第一金属布线上形成第二焊球,将第二芯片倒装在所述第二焊球上;

在所述第一金属布线上形成第二胶层,所述第二胶层包覆所述第二芯片,以将所述第二芯片固定在所述承载片的第二表面;

形成贯穿所述第二胶层的金属柱,所述金属柱与所述第一金属布线电连接;

在所述第二胶层上形成第二金属布线,所述第二金属布线与所述金属柱电连接;

在所述第二金属布线上形成第三焊球,以完成三维堆叠的扇出型芯片封装。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述承载片的第二表面形成第一金属布线,包括:

在所述承载片的第二表面形成第一钝化层;

图形化所述第一钝化层,以在对应所述金属通孔的位置形成第一过孔;

在所述第一过孔和所述第一钝化层上形成所述第一金属布线。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述在所述第一金属布线上形成第二焊球,将第二芯片倒装在所述第二焊球上,包括:

在所述第一金属布线上形成第一保护层,并在所述第一保护层上形成第二过孔;

在所述第二过孔中形成所述第二焊球,将所述第二芯片倒装在所述第二焊球上。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述在所述第二胶层上形成第二金属布线,包括:

在所述第二胶层上形成第二钝化层;

图形化所述第二钝化层,以在对应所述金属柱的位置形成第三过孔;

在所述第三过孔和所述第二钝化层上形成所述第二金属布线。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述在所述第二金属布线上形成第三焊球,包括:

在所述第二金属布线上形成第二保护层,并在所述第二保护层上形成第四过孔;

在所述第四过孔中形成所述第三焊球。

6.一种使用权利要求1-5中任一项方法制作的三维堆叠的扇出型芯片封装结构,其特征在于,所述封装结构包括:

承载片,所述承载片包括沿其厚度方向相对设置的第一表面和第二表面,所述承载片是硅、玻璃、金属或有机基板材料的平板,所述承载片设置有贯穿所述第一表面和所述第二表面的金属通孔;

第一焊球,所述第一焊球设置在所述承载片的第一表面,并与所述金属通孔电连接;

第一芯片,所述第一芯片倒装在所述第一焊球上;

第一胶层,所述第一胶层设置在所述承载片的第一表面,并包覆所述第一芯片;

第一金属布线,所述第一金属布线设置在所述承载片的第二表面,所述第一金属布线与所述金属通孔电连接;

第二焊球,所述第二焊球设置在所述第一金属布线上;

第二芯片,所述第二芯片倒装在所述第二焊球上;

第二胶层,所述第二胶层设置在所述第一金属布线上,并包覆所述第二芯片;

金属柱,所述金属柱贯穿所述第二胶层,并与所述第一金属布线电连接;

第二金属布线,所述第二金属布线设置在所述第二胶层上,并与所述金属柱电连接;

第三焊球,所述第三焊球形成在所述第二金属布线上。

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