[发明专利]参数校正方法与半导体装置

权利要求书

1.一种参数校正方法，用于校正电路的多个待校正的电子组件所对应的多个参数，包括以下步骤：

(A)关闭所有待校正的电子组件，并且从该多个待校正的电子组件中选择第一电子组件作为被校正的电子组件；

(B)开启该被校正的电子组件，并且对该被校正的电子组件执行校正程序，以确定出该被校正的电子组件所对应的参数的设定值，其中在确定出该设定值后，该被校正的电子组件成为已校正的电子组件；以及

(C)从该多个待校正的电子组件中选择第二电子组件作为该被校正的电子组件，并且执行步骤(B)，

其中步骤(C)反复被执行，直到所有待校正的电子组件都成为已校正的电子组件，并且在执行步骤(C)时，该已校正的电子组件保持被开启。

2.如权利要求1所述的参数校正方法，其中对该被校正的电子组件执行的该校正程序包括以下步骤：

(B21)将该被校正的电子组件所对应的该参数设定为第一设定值；

(B22)由该电路根据具有第一频率的第一测试信号产生第一输出信号以及根据具有第二频率的第二测试信号产生第二输出信号；

(B23)计算该第一输出信号中在该第一频率的频率成分的能量，并且根据该第一测试信号的能量以及该第一输出信号中在该第一频率的该频率成分的能量计算第一增益值，以及计算该第二输出信号中在该第二频率的频率成分的能量，并且根据该第二测试信号的能量以及该第二输出信号中在该第二频率的该频率成分的能量计算第二增益值；

(B24)将该被校正的电子组件对应的该参数设定为不同于该第一设定值的第二设定值，并执行步骤(B22)与步骤(B23)，以取得对应于该第二设定值的该第一增益值与该第二增益值；以及

(B25)根据至少一个目标值、对应于该第一设定值的该第一增益值与该第二增益值以及对应于该第二设定值的该第一增益值与该第二增益值确定该第一电子组件所对应的该参数的该设定值。

3.如权利要求2所述的参数校正方法，其中该至少一个目标值包括该第一频率的第一目标增益值以及该第二频率的第二目标增益值。

4.如权利要求2所述的参数校正方法，其中步骤(B24)反复地根据该被校正的电子组件所对应的该参数的不同设定值被执行多次，并且在执行完多次步骤(B24)后，在步骤(B25)中该设定值是根据该至少一个目标值以及对应于所述不同设定值的该第一增益值与该第二增益值被确定。

5.如权利要求1所述的参数校正方法，其中该多个待校正的电子组件为该电路内的多个电容，并且该多个参数为该多个电容的电容值。

6.一种半导体装置，包括：

均衡器电路；以及

控制单元，耦接至该均衡器电路，用于校正该均衡器电路的多个待校正的电子组件所对应的多个参数，其中该控制单元执行以下操作：

(A)关闭该均衡器电路的所有待校正的电子组件，并且从该多个待校正的电子组件中选择第一电子组件作为被校正的电子组件；

(B)开启该被校正的电子组件，并且对该被校正的电子组件执行校正程序，以确定出该被校正的电子组件所对应的参数的设定值，其中在确定出该设定值后，该被校正的电子组件被视为已校正的电子组件；以及

(C)从该多个待校正的电子组件中选择第二电子组件作为该被校正的电子组件，并且执行操作(B)，

其中操作(C)反复被执行，直到所有待校正的电子组件都被视为已校正的电子组件，并且在执行操作(C)时，该控制单元控制该已校正的电子组件保持被开启。