[发明专利]一种点阵光谱测量装置、面阵色度测量装置及方法

权利要求书

1.一种点阵光谱测量装置，其特征在于，所述装置包括：

物镜（1），其用于对目标进行成像；

点扫描组件（2），用于以二维点阵形式采集所述物镜（1）对目标的成像，得到二维点阵光，并将所述二维点阵光转换成一维点阵光后出射；

准直色散组件（3），其用于对所述一维点阵光进行准直处理、色散处理以及聚焦处理；

成像组件（4），其用于对经过准直处理、色散处理以及聚焦处理的一维点阵光成像，获得所述二维点阵光中各束光的光谱信息。

2.如权利要求1所述的点阵光谱测量装置，其特征在于，所述点扫描组件（2）包括：

多根光导部件（20）；

多根所述光导部件（20）的一端以二维点阵形式排列，用于采集所述物镜（1）对目标的成像，得到所述二维点阵光；

多根所述光导部件（20）的另一端呈直线排列，以将所述二维点阵光转换为一维点阵光出射；其中，

多根所述光导部件（20）以二维点阵形式排列的一端位于所述物镜（1）的像平面。

3.如权利要求1所述的点阵光谱测量装置，其特征在于，所述点扫描组件（2）包括：

多个以二维点阵形式排列第一光纤头（21），用于采集所述物镜（1）对目标的成像，得到所述二维点阵光；

光耦合器（22），所述光耦合器（22）上设有多个一维排列的第二光纤头（23），且所述第一光纤头（21）通过光纤与相应的所述第二光纤头（23）连接，以将所述二维点阵光转换成一维点阵光后出射；其中，

各所述第一光纤头（21）位于所述物镜（1）的像平面。

4.如权利要求3所述的点阵光谱测量装置，其特征在于：

各所述第一光纤头（21）通过光纤与所述光耦合器（22）的一侧连接；

各所述第二光纤头（23）通过光纤与所述光耦合器（22）的另一侧连接。

5.如权利要求1所述的点阵光谱测量装置，其特征在于，所述准直色散组件（3）包括：

准直镜（30），其用于对所述一维点阵光进行准直处理；

色散部件（31），其用于对经过准直处理的一维点阵光进行色散处理；

聚焦镜（32），其用于对经过准直和色散处理的一维点阵光进行聚焦处理，从而使得经过准直和色散处理的一维点阵光在所述成像组件（4）上成像。

6.如权利要求5所述的点阵光谱测量装置，其特征在于，所述点扫描组件（2）的出射端位于所述准直镜（30）的物方焦平面。

7.如权利要求6所述的点阵光谱测量装置，其特征在于，所述装置还包括狭缝部件（5）；

所述狭缝部件（5）位于所述准直镜（30）的物方焦平面上；

所述点扫描组件（2）的出射端靠近所述狭缝部件（5）；

所述狭缝部件（5）的狭缝长度方向与所述点扫描组件（2）的出射端的排列方向平行。

8.一种点阵光谱测量方法，其特征在于，所述方法基于依次间隔设置的物镜（1）、点扫描组件（2）、准直色散组件（3）以及成像组件（4），所述方法包括以下步骤：

利用所述物镜（1）对目标进行成像；

利用所述点扫描组件（2）以二维点阵的形式采集所述物镜（1）对目标的成像，得到二维点阵光，并将所述二维点阵光转换成一维点阵光后出射；

利用所述准直色散组件（3）对所述一维点阵光进行准直处理、色散处理以及聚焦处理；

利用所述成像组件（4）对经过准直处理、色散处理以及聚焦处理的一维点阵光成像，获得所述二维点阵光中各束光的光谱信息。