[发明专利]全无机卤化物钙钛矿CsPbBr3 有效
申请号: | 202011304219.2 | 申请日: | 2020-11-19 |
公开(公告)号: | CN112525940B | 公开(公告)日: | 2023-07-04 |
发明(设计)人: | 程渊博;徐亚东;孙啟皓;王方宝;张滨滨;朱孟花;杨文慧;介万奇 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | G01N23/2251 | 分类号: | G01N23/2251;G01N23/20091;G01N23/2206;G01N23/20008;G01N23/2202;G01N1/28;G01N1/32;G01N1/34;C30B33/10 |
代理公司: | 西安凯多思知识产权代理事务所(普通合伙) 61290 | 代理人: | 王鲜凯 |
地址: | 710072 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 无机 卤化物 钙钛矿 cspbbr base sub | ||
1.一种全无机卤化物钙钛矿CsPbBr3晶片表面二次相颗粒显现方法,其特征在于步骤如下:
步骤1:将5000#砂纸砂纸置于抛光盘上,晶片置于砂纸上,之间滴加分析纯99.7%的无水乙醇,按压晶片进行磨抛后,换另一面加入无水乙醇按压晶片后进行磨抛,然后用无水乙醇清洗干净,高纯氮气吹干;
步骤2:将研磨垫粘贴于抛光盘上,滴加分析纯99.7%的无水乙醇,在将氧化镁MgO颗粒均匀撒在分析纯无水乙醇上,然后放置晶片,按压晶片进行磨抛后,换另一面加入无水乙醇和氧化镁MgO颗粒后按压晶片进行磨抛,然后用无水乙醇清洗干净,高纯氮气吹干;
步骤3:将研磨垫粘贴于抛光盘上,滴加分析纯99.7%的无水乙醇,按压晶片进行磨抛后,换另一面加入无水乙醇后按压晶片进行磨抛,然后用无水乙醇清洗干净,高纯氮气吹干;
步骤4:用分析纯99.7%的无水乙醇和浓度为40-48%的氢溴酸配置体积分数为5-20%的氢溴酸乙醇溶液作为腐蚀液,将抛光后的晶片在腐蚀液中腐蚀3-15min,腐蚀后用无水乙醇除去晶片表面残留溶液,高纯氮气缓气流吹干;
使用SEM和EDS在晶片表面,实现对二次相颗粒形貌、尺寸、分布和组分特征参数的精确表征。
2.根据权利要求1所述全无机卤化物钙钛矿CsPbBr3晶片表面二次相颗粒显现方法,其特征在于:所述磨抛方式为:按压晶片匀速画8字进行磨抛。
3.根据权利要求1所述全无机卤化物钙钛矿CsPbBr3晶片表面二次相颗粒显现方法,其特征在于:所述步骤1得磨抛时间为150-300秒。
4.根据权利要求1所述全无机卤化物钙钛矿CsPbBr3晶片表面二次相颗粒显现方法,其特征在于:所述氧化镁MgO颗粒得粒径为3μm。
5.根据权利要求1所述全无机卤化物钙钛矿CsPbBr3晶片表面二次相颗粒显现方法,其特征在于:所述步骤2的磨抛时间为300-800秒。
6.根据权利要求1所述全无机卤化物钙钛矿CsPbBr3晶片表面二次相颗粒显现方法,其特征在于:所述步骤3的磨抛时间为100-200秒。
7.根据权利要求1所述全无机卤化物钙钛矿CsPbBr3晶片表面二次相颗粒显现方法,其特征在于:所述三个步骤的磨抛的抛光盘为不同抛光盘。
8.根据权利要求1所述全无机卤化物钙钛矿CsPbBr3晶片表面二次相颗粒显现方法,其特征在于:所述步骤1滴加于砂纸和晶片之间的无水乙醇为2-5毫升。
9.根据权利要求1所述全无机卤化物钙钛矿CsPbBr3晶片表面二次相颗粒显现方法,其特征在于:所述步骤2滴加于研磨垫和晶片之间的无水乙醇小于1毫升。
10.根据权利要求1所述全无机卤化物钙钛矿CsPbBr3晶片表面二次相颗粒显现方法,其特征在于:所述步骤3滴加于研磨垫和晶片之间的无水乙醇5-10毫升。
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