[发明专利]一种雷达标定方法及装置

权利要求书

1.一种雷达标定方法，其特征在于，所述方法包括：

确定当第一雷达与第二雷达的仰角均为目标仰角时所述第一雷达与所述第二雷达的扫描范围之间的相交线；

获取所述第一雷达的仰角为所述目标仰角时所述第一雷达在所述相交线上各目标参考点上的第一反射率；获取所述第二雷达的仰角为所述目标仰角时所述第二雷达在所述相交线上所述各目标参考点上的第二反射率；

根据所述各目标参考点上的所述第一反射率和所述第二反射率，确定所述第一雷达与所述第二雷达的定位方位偏差、以及所述第一雷达与所述第二雷达的回波强度偏差。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取目标时段内所述第一雷达的仰角为所述目标仰角时，所述第一雷达在其扫描范围内各第一参考点上的回波反射率；

针对每个所述第一参考点，计算所述第一参考点上的回波反射率的平均值，作为所述第一参考点对应的第一反射率；

获取所述目标时段内所述第二雷达的仰角为所述目标仰角时，所述第二雷达在其扫描范围内各第二参考点上的回波反射率；

针对每个所述第二参考点，计算所述第二参考点上的回波反射率的平均值，作为该第二参考点对应的第二反射率；

则所述获取所述第一雷达的仰角为目标仰角时所述第一雷达在所述相交线上各目标参考点上的第一反射率，包括：

在所述第一雷达的扫描范围内的各所述第一参考点中，查找所述各目标参考点；获取所述各目标参考点各自对应的第一反射率；

则所述获取所述第二雷达的仰角为所述目标仰角时所述第二雷达在所述相交线上所述各目标参考点上的第二反射率，包括：

在所述第二雷达的扫描范围内的各所述第二参考点中，查找所述各目标参考点；获取所述各目标参考点各自对应的第二反射率。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述各目标参考点上的所述第一反射率和所述第二反射率，确定所述第一雷达与所述第二雷达的定位方位偏差，包括：

控制所述第二雷达以预设步进角度在偏差范围内旋转；

每完成一次旋转，获取所述第二雷达的仰角为所述目标仰角时所述第二雷达在所述相交线上所述各目标参考点上的第二反射率，作为本次旋转的偏转角度对应的第二反射率集合；

根据所述偏差范围内各偏转角度各自对应的第二反射率集合和所述各目标参考点上的所述第一反射率，确定所述第一雷达与所述第二雷达的定位方位偏差。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述偏差范围内各偏转角度各自对应的第二反射率集合和所述各目标参考点上的所述第一反射率，确定所述第一雷达与所述第二雷达的定位方位偏差，包括：

针对每个所述偏转角度，计算所述偏转角度对应的第二反射率集合中的第二反射率与所述各目标参考点上的所述第一反射率的零阶互相关度，作为所述偏转角度对应的零阶互相关度；

将所对应的零阶互相关度最大的偏转角度，作为所述第一雷达与所述第二雷达的定位方位偏差。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述各目标参考点上的所述第一反射率和所述第二反射率，确定所述第一雷达与所述第二雷达的回波强度偏差，包括：

基于所述定位方位偏差调整所述第二雷达的方位；

待完成对于所述第二雷达的方位的调整后，获取所述第二雷达的仰角为所述目标仰角时所述第二雷达在所述相交线上所述各目标参考点上的第二反射率；

采用最小平方法计算所述各目标参考点上的所述第一反射率和所述第二反射率间的距离，得到所述第一雷达与所述第二雷达的回波强度偏差。