[发明专利]一种颗粒物的粒径检测方法在审

专利信息
申请号: 202011031993.0 申请日: 2020-09-27
公开(公告)号: CN112116649A 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 朱梓清;刘小峰;吴访升 申请(专利权)人: 常州工程职业技术学院
主分类号: G06T7/62 分类号: G06T7/62;G01N15/02;G01B11/08
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 高桂珍
地址: 213164 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 颗粒 粒径 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种颗粒物的粒径检测方法,其特征在于,包括:

步骤1:对散开的颗粒物进行拍摄,并进行图像分析;

步骤2:提取图像中的灰度值信号曲线;

步骤3:一维连续小波变换;进行小波能量计算;绘制小波能量谱曲线;

步骤4:重复步骤3,得到不同方向的小波能量谱曲线,并对不同方向的小波能量谱曲线进行叠加,得到随尺度变化的小波能量谱曲线;

步骤5:对小波能量谱曲线进行归一化处理;

步骤6:获得颗粒物的粒径值。

2.根据权利要求1所述的一种颗粒物的粒径检测方法,其特征在于,所述一维连续小波变换的计算对象是图像中单条直线上随像素点位置变换的灰度值信号曲线。

3.根据权利要求2所述的一种颗粒物的粒径检测方法,其特征在于,将每个尺度对应的所有小波能量进行求和,即得到随尺度变化的小波能量谱曲线。

4.根据权利要求1所述的一种颗粒物的粒径检测方法,其特征在于,步骤1中,所述图像分析为Blob分析。

5.根据权利要求4所述的一种颗粒物的粒径检测方法,其特征在于,Blob分析后,对于相邻图像根据沙粒特性凸凹多边形算法再次分割。

6.根据权利要求1所述的一种颗粒物的粒径检测方法,其特征在于,所述颗粒物具有外凸的性状,整幅图像呈现出明暗交替的纹理特征,即亮区域为若干个相对独立的小片区,中间间隔着相对连续的黑暗区域。

7.根据权利要求1所述的一种颗粒物的粒径检测方法,其特征在于,步骤1之前还包括:

步骤0-1:将颗粒物样本置于料仓内,可控地使颗粒物样本下落到振动盘上,在振动盘上刷平料面;

步骤0-2:控制振动盘以可变的周期频率振动;

步骤0-3:检测沙粒性状,当沙粒性状为凹性状或线性状时,判断散开失败,重新散开,直至沙粒性状为凸性状时,进入步骤1。

8.根据权利要求1所述的一种颗粒物的粒径检测方法,其特征在于,采用线扫或者面扫拼接的方法进行拍摄,由PLC带动相机进行阵列拍摄。

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