[发明专利]用于制造测量头壳体的方法、盖和测量头壳体

说明书

本发明公开了一种用于制造用于型材轨道引导部的线性轴承的集成式的测量系统的测量头壳体的方法，其中由扁平材料制成的盖坯件设有粘接材料层并且弯曲成盖。本发明还公开了一种用于测量头壳体的盖和一种测量头壳体。

技术领域

本发明涉及一种根据权利要求1的用于制造测量头壳体的方法以及一种用于测量头壳体的盖。

背景技术

由DE 10 2008 022 312 A1 已知一种具有测量头壳体的扫描装置，该扫描装置U形地包围引导轨道。在扫描组件中设置有单独的传感器，其设置用于扫描量具（Maßverkörperung），以便确定引导滑座相对于引导轨道的位置。由于扫描装置布置在测量头壳体中，该结构基本上是所谓的集成式的测量系统（IMS）。

在此，这样构造测量头壳体，使得在每个测量头壳体中使用三个盖，即两个侧向的盖和一个上部的盖。尤其是在IMS的小型实施方式中，上部的盖的盖几何结构是复杂的，因为在测量头壳体中在上部的盖与侧向的盖之间没有构造所谓的接片。因此，上部的盖和侧向的盖必须直接相互接合。由于上部的盖和侧向的盖之间的这种相互接合，需要上部的盖具有一定的最小厚度，因为这些盖被手动地粘接在一起。同时，出于空间的原因，上部的盖必须在内壁部上被空心铣削。这是复杂且昂贵的。此外，为了相对于过程和环境影响进行密封，传感器可以利用由液态聚氨酯树脂构成的浇铸材料完全注塑包封。接着将盖与测量头壳体旋拧在一起。

此外，DE 10 2008 022 312 A1 公开了为测量头壳体设置U形的盖。该盖利用固定机构通过测量头壳体的端板与该测量头壳体相连接。在测量头壳体内部的分析电子器件和传感器在装配盖之后用浇铸材料相对于外部影响注塑成型，从而确保这些构件的流体密封的封闭。

上述解决方案的缺点在于，测量头壳体的结构非常复杂，并且通过最后的浇铸或浇注测量头壳体的内部来保护易受影响的分析电子器件和传感器，从而几乎不可能更换内部的构件。

发明内容

与此相对，本发明的任务在于，提供一种用于制造型材轨道引导部的集成式的测量系统的测量头壳体的简化的方法。本发明的另一任务是提供一种结构简单的盖和设有该盖的测量头壳体。

该任务在方法方面通过权利要求1的特征组合来实现，而在用于测量头壳体的盖方面通过并列权利要求9的特征组合来实现，而在测量头壳体方面通过并列权利要求11的特征组合来实现。

用于制造尤其用于型材轨道引导部的集成式的测量系统的测量头壳体的根据本发明的方法在此包括多个步骤。首先提供最大程度上平坦的盖坯件。也就是说，所提供的盖坯件在最广泛的意义上是扁平材料。在盖坯件被定位之后，将用于材料锁合连接的介质、优选粘接材料例如以粘接材料条（Klebstoffraupe）的形式涂覆到盖坯件上。在盖的面向测量头基体的内侧上进行涂覆。在涂敷所述介质之后，将测量头基体放置到盖坯件上。接着使位于盖坯件的端部区段上的支臂这样弯曲，使得施加在盖坯件上的介质与测量头基体贴靠。因此由盖坯件形成U形的盖。根据本发明，粘接材料被这样定位，使得它与测量头基体的端板和主体贴靠。因此，根据本发明的方法使得能够成本低廉地制造测量头壳体，因为一体式的盖坯件作为扁平材料予以提供，通过变形而成形为盖并且与测量头基体一起产生例如根据保护等级IP67工艺可靠地密封的测量头壳体。

在从属权利要求中说明了本发明的有利的改进方案和改良方案。

盖坯件可以由阳极氧化的铝板制成。在此，在阳极氧化之前可以涉及滚压产品、连铸构件或以其它方式制造的成型体。

在本发明的一种特别有利的设计方案中，在盖坯件的面向测量头基体的一侧上、即在内侧上设置有凹部。这些凹部预先给定弯曲棱边/弯曲线并且使变形、即弯曲变得容易。凹部的材料去除量优选为板的总材料厚度的25%至75%、特别是40%至60%。

在支臂的区域中在盖坯件中加工出另外的凹部。这些凹部被设置用于容纳固定机构。这些凹部优选是无阳极氧化的。