[发明专利]用于制造测量头壳体的方法、盖和测量头壳体在审

专利信息
申请号: 202011018015.2 申请日: 2020-09-24
公开(公告)号: CN112556737A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: S.舒勒 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: G01D11/24 分类号: G01D11/24;G01B21/02;G01D5/20
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 后云钟;陈浩然
地址: 德国斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 制造 测量 壳体 方法
【权利要求书】:

1.一种用于制造用于型材轨道引导部的线性轴承的集成式的测量系统的测量头壳体(1)的方法,该方法包括以下步骤:

- 提供在最大程度上平坦/平面的盖坯件(2),

- 将用于材料锁合连接的介质、优选粘接材料(30)涂敷到盖坯件(2)的面向测量头基体(4)的内侧(11)上,

- 将测量头基体(4)放置到盖坯件(2)上,

- 使所述盖(2)的支臂(6、8)弯曲,从而所述用于材料锁合连接的介质(30)在所述支臂(6、8)的区域中与所述测量头基体(4)贴靠。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述盖(2)由预阳极氧化的铝板(40)制成。

3.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,在所述盖(2)的面向所述测量头基体(4)的内侧(11)上设置有凹部(26)。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,在所述支臂(6、8)的区域中在两侧设置用于容纳固定机构(38)的孔(28)。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,用于材料锁合连接的介质(30)形成无间断的环,该无间断的环由于在弯曲装置(32)上的定向而不能从所述盖(2)流出。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述测量头基体(4)被倒置地放置到所述盖坯件(2)上。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述盖(2)一体式地构造。

8.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述盖(2)由具有1mm至4mm、优选1.5mm至2.5mm的材料厚度的扁平材料构成。

9.一种用于根据前述权利要求的方法制造的测量头壳体(1)的盖(2)。

10.根据权利要求9所述的盖(2),其特征在于,所述盖与所述测量头基体(4)电接触。

11.一种具有根据权利要求9或10所述的盖(2)的测量头壳体(1)。

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