[发明专利]检测设备及其收光装置

说明书

本发明公开一种检测设备及其收光装置，所述收光装置包含一远心透镜组、一图像处理模块、及一演算模块。所述远心透镜组包含有一入光端与一出光端，并用来引导多个发光芯片所发出且自所述入光端穿入其内的多道第一光线，自所述出光端穿出且形成较小发散角度的多道第二光线。所述图像处理模块设置于所述远心透镜组的所述出光端，用来接收并处理自所述出光端穿出的每道所述第二光线，以计算出相对应的所述发光芯片的RGB灰阶值。所述演算模块电性耦接于所述图像处理模块，用来接收每个所述发光芯片的所述RGB灰阶值并演算出每个发光芯片的光参数。据此，所述收光装置通过设置有所述远心透镜组，以得知每个所述发光芯片的光参数。

技术领域

本发明涉及一种检测设备，尤其涉及一种能够同时检测多个发光芯片的检测设备及其收光装置。

背景技术

用来检测多个发光芯片的现有检测设备，其是将多个所述发光芯片发出的光线总合当作单个面光源，而后依据所述面光源所推知的光参数总合再除以多个所述发光芯片的数量，以作为每个所述发光芯片的光参数。也就是说，现有检测设备并无法在多个发光芯片之中，单独检测一个所述发光芯片的光参数。

于是，本发明人认为上述缺陷可改善，乃特潜心研究并配合科学原理的运用，终于提出一种设计合理且有效改善上述缺陷的本发明。

发明内容

本发明实施例在于提供一种检测设备及其收光装置，能有效地改善现有检测设备所可能产生的缺陷。

本发明实施例公开一种检测设备，其包括：一电性检测装置，包含：一探针卡；一光学对位模块，其位置对应于探针卡；一透光载盘，其位置与探针卡相对应，并且透光载盘具有用来承载多个发光芯片的一承载面与位于承载面相反侧的一出光面；其中，探针卡能通过光学对位模块的对位后，而用来同时供电且电性检测透光载盘上的多个发光芯片，以使每个发光芯片朝向出光面发出具有第一发散角度的一第一光线；以及一收光装置，其邻近地设置于透光载盘的出光面，并且收光装置包含有：一远心透镜组，其包含有一入光端及一出光端；其中，远心透镜组用来引导由出光面穿出而自入光端穿入其内的多道第一光线，并使多道第一光线自出光端穿出且形成多道第二光线；其中，每道第二光线的第二发散角度小于相对应第一光线的第一发散角度；一图像处理模块，其设置于远心透镜组的出光端，用来接收并处理自出光端穿出的每道第二光线，以计算出相对应的发光芯片的RGB灰阶值；及一演算模块，其电性耦接于图像处理模块，用来接收每个发光芯片的RGB灰阶值并演算出每个发光芯片的光参数。

优选地，收光装置进一步包含有位于远心透镜组的入光端与透光载盘的出光面之间的一减光镜，并且减光镜用来降低每道第一光线的光线强度。

优选地，收光装置进一步包含有：一光谱仪，其电性耦接于演算模块；及一分光镜，其连接于远心透镜组并用来接收每道第二光线；其中，分光镜的位置对应于图像处理模块与光谱仪，用来使其所接收的每道第二光线被引导至图像处理模块与光谱仪；其中，光谱仪能依据其所接收的多道第二光线而计算出多个发光芯片的一平均光谱；演算模块能依据RGB灰阶值与平均光谱，而演算出每个发光芯片的光参数。

优选地，图像处理模块包含有：一图像接收器，其邻接于远心透镜组的出光端，并且图像接收器能以其多个像素接收任一道第二光线而对应产生一发光芯片图像；及一信号处理单元，其电性耦接图像接收器与演算模块；信号处理单元能用来对每个发光芯片图像进行图像处理，以计算出相对应的RGB灰阶值。

优选地，透光载盘所能用来承载的多个发光芯片的数量为100颗以上且设置于一载体，并且收光装置的远心透镜组能用来同时引导100颗以上的多个发光芯片所发出的多道第一光线，以形成100道以上彼此不重叠的多道第二光线。