[发明专利]检测设备及其收光装置

权利要求书

1.一种检测设备，其特征在于，所述检测设备包括：

一电性检测装置，包含：

一探针卡；

一光学对位模块，其位置对应于所述探针卡；

一透光载盘，其位置与所述探针卡相对应，并且所述透光载盘具有用来承载多个发光芯片的一承载面与位于所述承载面相反侧的一出光面；

其中，所述探针卡能通过所述光学对位模块的对位后，而用来同时供电且电性检测所述透光载盘上的多个所述发光芯片，以使每个所述发光芯片朝向所述出光面发出具有第一发散角度的一第一光线；以及

一收光装置，其邻近地设置于所述透光载盘的所述出光面，并且所述收光装置包含有：

一远心透镜组，其包含有一入光端及一出光端；其中，所述远心透镜组用来引导由所述出光面穿出而自所述入光端穿入其内的多道所述第一光线，并使多道所述第一光线自所述出光端穿出且形成多道第二光线；其中，每道所述第二光线的第二发散角度小于相对应所述第一光线的所述第一发散角度；

一图像处理模块，其设置于所述远心透镜组的所述出光端，用来接收并处理自所述出光端穿出的每道所述第二光线，以计算出相对应的所述发光芯片的RGB灰阶值；及

一演算模块，其电性耦接于所述图像处理模块，用来接收每个所述发光芯片的所述RGB灰阶值并演算出每个所述发光芯片的光参数。

2.依据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述收光装置进一步包含有位于所述远心透镜组的所述入光端与所述透光载盘的所述出光面之间的一减光镜，并且所述减光镜用来降低每道所述第一光线的光线强度。

3.依据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述收光装置进一步包含有：

一光谱仪，其电性耦接于所述演算模块；及

一分光镜，其连接于所述远心透镜组并用来接收每道所述第二光线；其中，所述分光镜的位置对应于所述图像处理模块与所述光谱仪，用来使其所接收的每道所述第二光线被引导至所述图像处理模块与所述光谱仪；

其中，所述光谱仪能依据其所接收的多道所述第二光线而计算出多个所述发光芯片的一平均光谱；所述演算模块能依据所述RGB灰阶值与所述平均光谱，而演算出每个所述发光芯片的所述光参数。

4.依据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述图像处理模块包含有：

一图像接收器，其邻接于所述远心透镜组的所述出光端，并且所述图像接收器能以其多个像素接收任一道所述第二光线而对应产生一发光芯片图像；及

一信号处理单元，其电性耦接所述图像接收器与所述演算模块；所述信号处理单元能用来对每个所述发光芯片图像进行图像处理，以计算出相对应的所述RGB灰阶值。

5.依据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述透光载盘所能用来承载的多个所述发光芯片的数量为100颗以上且多个所述发光芯片设置于一载体上，并且所述收光装置的所述远心透镜组能用来同时引导100颗以上的多个所述发光芯片所发出的多道所述第一光线，以形成100道以上彼此不重叠的多道所述第二光线。

6.一种检测设备的收光装置，其特征在于，所述检测设备的收光装置包括：

一远心透镜组，其包含有一入光端及一出光端；其中，所述远心透镜组用来引导多个发光芯片所发出且自所述入光端穿入其内的多道第一光线，并使多道所述第一光线自所述出光端穿出且形成多道第二光线；其中，每道所述第二光线的第二发散角度小于相对应所述第一光线的第一发散角度；

一图像处理模块，其设置于所述远心透镜组的所述出光端，用来接收并处理自所述出光端穿出的每道所述第二光线，以计算出相对应的所述发光芯片的RGB灰阶值；以及

一演算模块，其电性耦接于所述图像处理模块，用来接收每个所述发光芯片的所述RGB灰阶值并演算出每个所述发光芯片的光参数。

7.依据权利要求6所述的检测设备的收光装置，其特征在于，所述收光装置进一步包含有位于所述远心透镜组的所述入光端与透光载盘的出光面之间的一减光镜，并且所述减光镜用来降低每道所述第一光线的光线强度。