[发明专利]一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法

说明书

本发明公开了一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法，包括步骤：沿金属基体截面切取宽度不小于5mm的带表面涂层的金相试样，先在光学显微镜50‑100倍下低倍观察紧邻涂层的金属基体是否存在裂纹情况；如紧邻涂层的金属基体存在裂纹，则在光学显微镜500倍‑1000倍下高倍观察裂纹内部是否存在组织和形貌与涂层相同的物质；在扫描电镜下采用微区能谱分析方法，确定裂纹内物质的主要元素与涂层是否相同，其含量是否与涂层接近；如果上述几个特征均存在，就说明金属基体表面裂纹的形成时间在涂层之前，否则在涂层之后。

技术领域

本发明属于金属材料表面技术领域，具体涉及一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法。

背景技术

由于涂层具有在不改变金属基体材料组成的前提下能大幅提高材料表面性能的优势，而获得了广泛应用。在后续使用中不断遇到带涂层金属部件的失效情况，在解剖试验分析时往往在紧邻涂层的金属基体表面有大量的表面裂纹存在，这些表面裂纹的形成时间包括喷涂处理前及之后的使用中，由于无法判定其形成时间是在喷涂处理之前还是之后，造成无法进一步确定带涂层金属部件的失效原因及责任划定。

发明内容

本发明的目的在于提供了一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法，该方法可以准确的判定带涂层金属基体表面裂纹的形成时间是在喷涂处理之前还是之后，从而有助于确定带涂层金属部件的失效原因及责任划定。

本发明采用如下技术方案来实现的：

一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法，包括以下步骤：

1)沿金属基体截面切取带表面涂层的金相试样，先在光学显微镜下低倍观察紧邻涂层的金属基体是否存在裂纹情况；

2)如紧邻涂层的金属基体存在裂纹，则在光学显微镜下高倍观察裂纹内部是否存在组织和形貌与涂层相同的物质；

3)在扫描电镜下采用微区能谱分析方法，确定裂纹内物质的主要元素与涂层是否相同，其含量是否与涂层接近；

4)如果上述几个特征均存在，就说明金属基体表面裂纹的形成时间在涂层之前，否则在涂层之后。

本发明进一步的改进在于，金相试样宽度即垂直涂层的距离不小于5mm。

本发明进一步的改进在于，光学显微镜低倍观察的放大倍数为50倍-100倍。

本发明进一步的改进在于，光学显微镜高倍观察的放大倍数为500倍-1000倍。

本发明进一步的改进在于，微区能谱分析的面积小于裂纹内物质的面积。

本发明进一步的改进在于，微区能谱分析出裂纹内物质的主要元素与涂层相同，其含量与涂层接近。

本发明具有以下有益的技术效果：

本发明所述的带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法，简便易行，可以准确的判定带涂层金属基体表面裂纹的形成时间是在喷涂处理之前还是之后，从而有助于确定带涂层金属部件的失效原因及责任划定，以往由于没有准确判定表面裂纹的形成时间而无法明确责任，本发明可以准确的对带涂层金属基体表面裂纹的形成时间进行判定。

附图说明

图1为带涂层的金属基体表面裂纹的宏观形貌。

图2为图1的局部放大图。

具体实施方式

以下结合附图和实施例对本发明做出进一步的说明。

本发明提供的一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法，包括以下步骤：