[发明专利]一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法

权利要求书

1.一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)沿金属基体截面切取带表面涂层的金相试样，先在光学显微镜下低倍观察紧邻涂层的金属基体是否存在裂纹情况；

2)如紧邻涂层的金属基体存在裂纹，则在光学显微镜下高倍观察裂纹内部是否存在组织和形貌与涂层相同的物质；

3)在扫描电镜下采用微区能谱分析方法，确定裂纹内物质的主要元素与涂层是否相同，其含量是否与涂层接近；

4)如果上述几个特征均存在，就说明金属基体表面裂纹的形成时间在涂层之前，否则在涂层之后。

2.根据权利要求1所述的一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法，其特征在于，金相试样宽度即垂直涂层的距离不小于5mm。

3.根据权利要求1所述的一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法，其特征在于，光学显微镜低倍观察的放大倍数为50倍-100倍。

4.根据权利要求1所述的一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法，其特征在于，光学显微镜高倍观察的放大倍数为500倍-1000倍。

5.根据权利要求1所述的一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法，其特征在于，微区能谱分析的面积小于裂纹内物质的面积。

6.根据权利要求1所述的一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法，其特征在于，微区能谱分析出裂纹内物质的主要元素与涂层相同，其含量与涂层接近。