[发明专利]尺寸检测方法、装置、电子设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种尺寸检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取第一图像及第二图像，所述第一图像、所述第二图像分别为经过标定的第一相机、第二相机拍摄放置在工作面上的待测物料得到的图像，所述第一图像包括所述待测物料的第一边线，所述第二图像包括所述待测物料的第二边线；

从所述第一图像确定所述第一边线的第一标记点，以及从所述第二图像确定所述第二边线的第二标记点；

将所述待测物料的厚度数据及所述第一标记点在所述第一图像中的第一像素位置数据、所述第二标记点在所述第二图像中的第二像素位置数据，输入计算模型，通过所述计算模型确定所述第一标记点与所述第二标记点之间的实际目标距离。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述待测物料的厚度数据及所述第一标记点在所述第一图像中的第一像素位置数据、所述第二标记点在所述第二图像中的第二像素位置数据，输入计算模型，通过所述计算模型确定所述第一标记点与所述第二标记点之间的实际目标距离，包括：

将所述厚度数据、所述第一像素位置数据、所述第二像素位置数据输入所述计算模型，所述第一像素位置数据包括在所述第一图像中所述第一标记点与第一参考点的第一像素距离及所述第一标记点与所述第一参考点、第二参考点的第一相对位置，所述第二像素位置数据包括在所述第二图像中所述第二标记点与第二参考点的第二像素距离及所述第二标记点与所述第一参考点、所述第二参考点的第二相对位置，所述计算模型包括所述第一相机拍摄所述工作面得到的图像中像素距离与实际距离的第一对应关系、所述第二相机拍摄所述工作面得到的图像中像素距离与实际距离的第二对应关系、所述第一参考点与所述第二参考点的在所述工作面上的实际相对距离；

基于所述厚度数据、所述第一相机与所述工作面的第一距离，通过所述计算模型对所述第一像素距离进行校正，得到第三像素距离，以及基于所述厚度数据、所述第二相机与所述工作面的第二距离，通过所述计算模型对所述第二像素距离进行校正，得到第四像素距离；

根据所述第一对应关系，通过所述计算模型确定所述第三像素距离对应的第一实际距离，以及根据所述第二对应关系，通过所述计算模型确定所述第三像素距离对应的第二实际距离；

根据所述第一标记点与所述第一参考点和所述第二参考点的第一相对位置，所述第二标记点与所述第一参考点和所述第二参考点的第二相对位置、所述第一实际距离、所述第二实际距离、所述第一参考点与所述第二参考点的在所述工作面上的实际相对距离，通过所述计算模型确定所述第一标记点与所述第二标记点的所述实际目标距离。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述第一标记点与所述第一参考点和所述第二参考点的第一相对位置，所述第二标记点与所述第一参考点和所述第二参考点的第二相对位置、所述第一实际距离、所述第二实际距离、所述第一参考点与所述第二参考点的在所述工作面上的实际相对距离，通过所述计算模型确定所述第一标记点与所述第二标记点的所述实际目标距离，包括：

当所述第一相对位置表征所述第一标记点在所述第一参考点和所述第二参考点之间，且所述第二相对位置表征所述第二标记点在所述第一参考点和所述第二参考点之间时，通过所述实际相对距离减去所述第一实际距离及减去所述第二实际距离，得到所述实际目标距离；

当所述第一相对位置表征所述第一标记点未在所述第一参考点和所述第二参考点之间，且所述第二相对位置表征所述第二标记点未在所述第一参考点和所述第二参考点之间时，通过所述实际相对距离加上所述第一实际距离及加上所述第二实际距离，得到所述实际目标距离。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在获取第一图像及第二图像之前，所述方法还包括：

控制线性光源照射在所述待测物料上，以在所述待测物料的表面投射出线性光线，所述线性光线与所述第一边线相交及所述第二边线相交。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，从所述第一图像确定所述第一边线的第一标记点，以及从所述第二图像确定所述第二边线的第二标记点，包括：

将所述第一图像中所述线性光线与所述第一边线的交点确定为所述第一标记点；

将所述第二图像中所述线性光线与所述第二边线的交点确定为所述第二标记点。