[发明专利]用于生成并且微调存储器单元读取操作的阶段的电路

说明书

本公开的实施例涉及用于生成并且微调存储器单元读取操作的阶段的电路。一种读取信号生成器，生成读取信号以控制存储器阵列的读取操作。可以对读取信号生成器进行选择性地控制，以生成具有与读取信号的特征相对应的周期的振荡信号。振荡信号被传递给分频器，该分频器对振荡信号进行分频，并且将经分频的振荡信号提供给输出焊盘。可以在输出焊盘处测量振荡信号的频率。可以根据振荡信号的频率来计算振荡信号的频率，以及读取信号特征的持续时间。然后，可以根据需要调整读取信号特征。

技术领域

本公开涉及集成电路领域。本公开更具体地涉及存储器单元读取操作。

背景技术

许多集成电路包括存储数据的存储器单元。由存储器单元所存储的数据可以包括可执行软件指令、图像、视频文件、音频文件、以及文档。

存储器单元通常以行和列的阵列布置。每行中的存储器单元通过相应字线连接在一起。每列中的存储器单元通过相应位线连接在一起。

感测放大器通常耦合到位线。感测放大器帮助从存储器单元读取数据。在许多情况下，生成复杂的信号集合，以控制由感测放大器所执行的读取操作的时序。

工程师和科学家不断寻求改善从存储器单元读取数据的速度。每秒可以执行的读取循环的数目部分基于读取时钟信号的频率。读取时钟信号的频率越高，每秒可以执行的读取操作的数目就越多。

然而，随着读取时钟信号的频率增加，用于执行单独读取操作的时间窗口减小。因为如上文所提及的，在一些情况下，读取操作由基于读取时钟信号的复杂信号集合控制，所以这可能会带来问题。信号之间彼此具有特定时序和关系。信号的特征中的一些特征的时间窗口可能比单独时钟循环的周期短得多。

在一些情况下，在制造集成电路期间，在各种读取信号中的时序可以受到工艺变化的影响。例如，生成信号中的一些信号的电路部件可以具有信号传播延迟，该信号传播延迟将根据制造期间条件的变化而有所变化。这样的信号传播延迟可以使得各种读取信号(尤其是时间窗口非常短的读取信号)的时序不正确。如果各种信号的时序不落在所选择的公差内，则读取操作可能会失败。

由于在集成电路的批量测试和合格评定期间可能难以测量信号的时序的事实，所以这些问题就被放大了。通常，通过连接到集成电路的一个或多个输出焊盘的外部测试电路来完成测试。然而，这些输出焊盘具有相对较大的面积，并且对应地具有较大的电容。这些大电容可以使得对输出焊盘进行充分充电或放电所需的时间大于要测量的信号特征的预期持续时间，使得无法进行准确测量。例如，当尝试测量预期长度小于10ns的信号特征时，输出焊盘在小于50ns的时间内可能无法充分充电或放电，使得无法准确测量信号特征的时序。

发明内容

一个实施例是集成电路，该集成电路具有存储器单元阵列。集成电路包括读取信号生成器，该读取信号生成器生成用于控制存储器单元的读取操作的各种读取信号。读取信号生成器包括电路装置，电路装置选择性地生成具有表示读取信号中的一个读取信号的特定特征的持续时间的周期的振荡信号。集成电路还包括分频器，该分频器从读取信号生成器接收振荡信号，并且基于分频比来输出经分频的振荡信号，该经分频的振荡信号的频率相对于振荡信号被降低。分频器将经分频的振荡信号传递到集成电路的输出焊盘。

在测试各种读取信号的时序期间，测试电路与输出焊盘接口，并且测量经分频的振荡信号的周期。经分频的振荡信号的周期对应于信号特征的持续时间乘以分频比。信号特征的持续时间可以通过将经分频的振荡信号的周期除以分频比来获得。

因而，集成电路有利地提供了测量读取信号特征的持续时间的方式，该读取信号特征的持续时间比集成电路的输出焊盘的充电时间和放电时间短。可以在测试期间选择性地生成振荡信号和对应的经分频的振荡信号。

附加地，在一个实施例中，读取信号生成器包括使得能够微调信号特征的电路装置。例如，如果在测试期间，信号特征被测量为太长或太短，则可以通过调整读取信号生成器的一个或多个控制参数来微调信号特征。