[发明专利]一种集成电路翻面装置及其操作方法在审

专利信息
申请号: 202010914452.6 申请日: 2020-09-03
公开(公告)号: CN112038275A 公开(公告)日: 2020-12-04
发明(设计)人: 陈静 申请(专利权)人: 陈静
主分类号: H01L21/677 分类号: H01L21/677;H01L21/687
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成电路 装置 及其 操作方法
【说明书】:

发明公开了一种集成电路翻面装置及其操作方法,属于集成电路翻面领域。一种集成电路翻面装置,包括底座,所述从动齿轮的外壁固定连接有与下放置板相配合的上放置板;所述上放置板的底部设有梯形块,所述下放置板的顶部外壁分别设有凹槽和放置槽,所述放置槽内放置有集成电路本体,所述活塞的外壁连接有与梯形块相配合的滑块,所述滑块的底部和顶部均设有不同坡度的斜面;所述底座的顶部外壁设有圆筒,所述底座的底部设有连接管,所述下放置板上设有缓冲卡紧机构,所述连接管通过缓冲卡紧机构与气筒相连通;本发明可使上放置板和下放置板方便固定,从而方便的对集成电路进行翻转,降低了劳动强度,提高了工作效率。

技术领域

本发明涉及集成电路翻面技术领域,尤其涉及一种集成电路翻面装置及其操作方法。

背景技术

集成电路在电子学中是一种把电路(主要包括半导体设备,也包括被动组件等)小型化的方式,并时常制造在半导体晶圆表面上。

集成电路需要进行多项测试,有的测试需要从集成电路的顶面进行测试,有的测试需要从集成电路的底面进行测试;当一道工序测试完成需要翻面进入另一道工序测试时,由于集成电路多为批量生产,翻面的工作量较大;用人工进行翻面效率低且不利于组织集成电路测试流水作业;为了克服目前用人工进行集成电路翻面效率低且不利于组织集成电路测试流水作业的不足,因此,设计一种集成电路翻面效率高且利于组织集成电路测试流水作业的集成电路翻面装置及操作方法,成为亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中的不足,而提出的一种集成电路翻面装置及其操作方法。

为了实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:

一种集成电路翻面装置,包括底座,所述底座的顶部外壁固定连接有底板,所述底板的顶部设有下放置板;所述底座的顶部外壁固定连接有框板,所述框板内转动连接有丝杆,所述丝杆上螺纹连接有螺纹块,所述螺纹块的外壁固定连接有固定轴,所述固定轴远离螺纹块的一端转动连接有从动齿轮,所述从动齿轮的外壁固定连接有与下放置板相配合的上放置板;

所述上放置板的底部设有梯形块,所述下放置板的顶部外壁分别设有凹槽和放置槽,所述放置槽内放置有集成电路本体,所述梯形块连接在凹槽内,所述凹槽的侧壁设有气筒,所述气筒内滑动连接有第二活塞,所述活塞的外壁连接有与梯形块相配合的滑块,所述滑块的底部和顶部均设有不同坡度的斜面;

所述底座的顶部外壁设有圆筒,所述底座的底部设有连接管,所述下放置板上设有缓冲卡紧机构,所述连接管通过缓冲卡紧机构与气筒相连通。

优选的,所述缓冲卡紧机构主要包括气囊和第一空心管,所述下放置板上还设有方形槽和长槽,所述底板的顶部外壁固定连接有第一空心管,所述第一空心管插接在长槽内,所述长槽内还滑动连接有与第一空心管相配合的环形板,所述环形板的顶部外壁固定连接有第二空心管,所述气囊分别与气筒和第二空心管相连通。

优选的,所述方形槽的底部设有方框,所述气囊与方框相连通,所述第二空心管的顶部外壁固定连接有挡板,所述挡板与方形槽的内壁相抵,且相抵处设有密封垫,所述第二空心管的顶部设有与方框相连通的通孔。

优选的,所述凹槽的侧壁设有滑槽,所述第二活塞的外壁固定连接有连杆,所述滑块连接在连杆的外壁,所述连杆的外壁套接有第二弹簧,所述第二弹簧连接在滑块与第二活塞之间,所述滑块滑动连接在滑槽内。

优选的,所述方形槽的内壁滑动连接有滑板,所述滑板与气囊相配合,所述滑板与方形槽的内壁之间固定连接有第三弹簧。

优选的,所述第二空心管的外壁套接有第四弹簧,所述第四弹簧连接在长槽的顶部内壁与环形板的外壁之间。

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