[发明专利]存储器的掉电测试方法、装置、可读存储介质及电子设备

说明书

本发明公开一种存储器的掉电测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，先在待测试存储器中写入第一测试数据，然后对待测试存储器的实时状态进行监测，在监测过程中，如果待测试存储器处于上电状态下，则触发待测试存储器始终执行垃圾回收机制，并且如果一旦监测到待测试存储器掉电，即对其掉电前的第一检测状态进行保存，待其上电后，基于保存的第一检测状态继续触发待检测存储器继续执行垃圾回收机制，通过对第一测试数据的校验能够实现对GC算法性能的自动化测试，不仅能够保证普通读写测试不因意外或主动掉电而受到影响，而且可以有效检测待测试存储器应对异常掉电情况下的GC算法的可靠性和稳定性。

技术领域

本发明涉及存储器检测领域，尤其涉及一种存储器的掉电测试方法、装置、可读存储介质及电子设备。

背景技术

由于EMMC(Embedded Multi-Media Card，嵌入式多媒体存储器)的算法，当EMMC的数据写入量超过一定范围时，会触发垃圾回收(garbage collection，以下简称GC)机制，此时在EMMC内部会进行一些数据搬迁的操作。如果在GC过程中存储器出现意外掉电的情况，GC算法不够完善的存储器则会因此失去一些重要的数据。但是，目前，并没有针对此机制进行测试的相关方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种存储器的掉电测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，能够对存储器的GC算法的性能进行自动化测试。

为了解决上述技术问题，本发明采用的一种技术方案为：

一种存储器的掉电测试方法，包括步骤：

接收第一测试数据写入请求，根据所述第一测试数据写入请求将所述第一测试数据写入已连接的未格式化的待测试存储器，在写入所述第一测试数据的过程中，所述待测试存储器保持上电状态；

当接收到所述第一测试数据写入完成的信号后，对所述待测试存储器的实时状态进行监测，在所述监测过程中，当所述待测试存储器处于上电状态下，触发所述待测试存储器始终执行垃圾回收机制；

当监测到所述待测试存储器掉电时，保存所述待测试存储器的第一检测状态；

当监测到所述待测试存储器重新上电时，根据所述第一检测状态继续触发所述待测试存储器继续执行垃圾回收机制；

判断是否接收到校验请求，若是，对所述第一测试数据进行校验，若否，返回执行对所述待测试存储器的实时状态进行监测的步骤。

为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：

一种存储器的掉电测试装置，包括：

数据写入模块，用于接收第一测试数据写入请求，根据所述第一测试数据写入请求将所述第一测试数据写入已连接的未格式化的待测试存储器，在写入所述第一测试数据的过程中，所述待测试存储器保持上电状态；

监测模块，用于当接收到所述第一测试数据写入完成的信号后，对所述待测试存储器的实时状态进行监测，在所述监测过程中，当所述待测试存储器处于上电状态下，触发所述待测试存储器始终执行垃圾回收机制；

当监测到所述待测试存储器掉电时，保存所述待测试存储器的第一检测状态；

当监测到所述待测试存储器重新上电时，根据所述第一检测状态继续触发所述待测试存储器继续执行垃圾回收机制；

检验模块，用于判断是否接收到校验请求，若是，对所述第一测试数据进行校验，若否，返回执行对所述待测试存储器的实时状态进行监测的步骤。

为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述一种存储器的掉电测试方法中的各个步骤。