[发明专利]存储器的掉电测试方法、装置、可读存储介质及电子设备

权利要求书

1.一种存储器的掉电测试方法，其特征在于，包括步骤：

接收第一测试数据写入请求，根据所述第一测试数据写入请求将所述第一测试数据写入已连接的未格式化的待测试存储器，在写入所述第一测试数据的过程中，所述待测试存储器保持上电状态；

当接收到所述第一测试数据写入完成的信号后，对所述待测试存储器的实时状态进行监测，在所述监测过程中，当所述待测试存储器处于上电状态下，触发所述待测试存储器始终执行垃圾回收机制；

当监测到所述待测试存储器掉电时，保存所述待测试存储器的第一检测状态；

当监测到所述待测试存储器重新上电时，根据所述第一检测状态继续触发所述待测试存储器继续执行垃圾回收机制；

判断是否接收到校验请求，若是，对所述第一测试数据进行校验，若否，返回执行对所述待测试存储器的实时状态进行监测的步骤。

2.根据权利要求1所述的一种存储器的掉电测试方法，其特征在于，所述触发所述待测试存储器始终执行垃圾回收机制包括：

接收第二测试数据写入请求，根据所述第二测试数据写入请求将所述第二测试数据持续写入所述待测试存储器，使得所述待测试存储器始终执行垃圾回收机制，所述第二测试数据的写入地址与所述第一测试数据的写入地址不同。

3.根据权利要求2所述的一种存储器的掉电测试方法，其特征在于，所述保存所述待测试存储器的第一检测状态包括：

保存所述待测试存储器掉电之前最后一个写入成功的逻辑数据块的地址；

所述根据所述第一检测状态继续触发所述待测试存储器继续执行垃圾回收机制包括：

根据所述保存的逻辑数据块的地址在所述待测试存储器的所述保存的逻辑数据块的地址之后继续写入所述第二测试数据，使得所述待测试存储器继续执行垃圾回收机制。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的一种存储器的掉电测试方法，其特征在于，还包括：

保存所述连接的待测试存储器的设备路径、第一VID值以及第一PID值；

所述对所述待测试存储器的实时状态进行监测包括：

监测预设的USB接口，当接收到从所述预设的USB接口发送来的存储器掉电信号时，根据所述存储器掉电信号，确定其对应的掉电的存储器的第二VID值和第二PID值；

判断所述第二VID值和第二PID值是否分别等于所述第一VID值和第一PID值，若是，则判断所述待测试存储器掉电；若否，则返回执行监测预设的USB接口的步骤；

当接收到从所述预设的USB接口发送来的存储器上电信号时，根据所述存储器上电信号，确定其对应的上电的存储器的第三VID值和第三PID值；

判断所述第三VID值和第三PID值是否分别等于所述第一VID值和第一PID值，若是，则判断所述待测试存储器重新上电，并根据保存的所述设备路径重新连接所述待测试存储器；若否，则返回执行监测预设的USB接口的步骤。

5.根据权利要求4所述的一种存储器的掉电测试方法，其特征在于，还包括接收待测试设备添加请求，所述待测试设备添加请求包括添加的待测试设备的VID值和PID值；

根据所述待测试设备添加请求，将其对应的VID值和PID值进行保存。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的一种存储器的掉电测试方法，其特征在于，所述第一测试数据包括连续的数据以及不连续的数据，所述不连续的数据包括分割开的多个预设大小的数据块。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的一种存储器的掉电测试方法，其特征在于，还包括接收日志保存请求，根据所述日志保存请求保存测试过程中打印的日志。