[发明专利]一种混合料粒度分析方法及系统在审
申请号: | 202010818005.0 | 申请日: | 2020-08-14 |
公开(公告)号: | CN111968173A | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
发明(设计)人: | 蒋源铭;邱立运 | 申请(专利权)人: | 湖南长天自控工程有限公司;中冶长天国际工程有限责任公司 |
主分类号: | G06T7/62 | 分类号: | G06T7/62;G06T7/80;G06T7/00 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 410006 *** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 混合 粒度 分析 方法 系统 | ||
1.一种混合料粒度分析方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取相机采集的混合料样本落在光源照射区域的图像并计算像素标定系数,所述混合料样本是指由取料平料装置在制粒机出料口盛接的混合料,所述像素标定系数用于表征图像像素与实际尺寸的比例关系;
对所述图像进行目标区域提取,得到多个包括混合料颗粒的混合料区域图像;
根据所述像素标定系数,计算每个所述混合料区域图像中混合料颗粒的等效半径;
根据所述等效半径和预置粒度等级区间,计算每个预置粒度等级区间对应的混合料颗粒体积和;
计算每个预置粒度等级区间对应的混合料颗粒体积和与所有预置粒度等级区间对应的混合料颗粒总体积的占比,得到混合料样本的粒度组成。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述计算像素标定系数,包括:
获取相机采集的光源照射区域的标定图像,所述标定图像是指光源照射区域内未出现混合料样本时的图像;
提取所述标定图像中光源的像素长度和像素宽度,以及,获取所述光源的实际长度和实际宽度;
根据所述像素长度和实际长度,或者,根据所述像素宽度和实际宽度,计算像素标定系数。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对图像进行目标区域提取,得到多个包括混合料颗粒的混合料区域图像,包括:
获取所述图像的灰度值组成;
对所述图像进行全局阈值分割处理,提取出灰度值满足灰度阈值的包含混合料的较黑区域;
对所述包含混合料的较黑区域进行连通域分割处理,得到多个小区域;
获取预设最大检测区域面积和每个所述小区域的像素面积;
选取每个所述小区域的像素面积小于所述预设最大检测区域面积内对应的小区域图像,作为包括混合料颗粒的混合料区域图像。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述获取预设最大检测区域面积,包括:
根据所述像素标定系数K和预设单个混合料最大内径R0,按照式Rmax=(K·R0),确定单个混合料最大像素内径Rmax;
根据所述单个混合料最大像素内径,以及式计算最大检测像素面积Smax;
根据所述最大检测像素面积和修正系数λ,以及式S=Smax·λ,确定预设最大检测区域面积S。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据像素标定系数,计算每个所述混合料区域图像中混合料颗粒的等效半径,包括:
获取每个所述混合料区域图像中混合料颗粒在图像上所占的像素值大小S1;
按照式计算每个所述混合料区域图像中混合料颗粒的等效半径r。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据等效半径和预置粒度等级区间,计算每个预置粒度等级区间对应的混合料颗粒体积和,包括:
根据每个混合料颗粒的等效半径,对所述混合料区域图像中的混合料颗粒按照预置粒度等级区间进行分级;
统计同一预置粒度等级区间对应的混合料颗粒的总数量;
按照式计算每个预置粒度等级区间对应的混合料颗粒体积和;
式中,V为每个预置粒度等级区间对应的混合料颗粒体积和,n为同一预置粒度等级区间对应的混合料颗粒的总数量,Si为每个预置粒度等级区间对应的第i个混合料颗粒在图像上所占的像素值大小,K为像素标定系数。
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