[发明专利]相控阵相位误差的校准方法、装置、存储介质及激光雷达有效

专利信息
申请号: 202010786950.7 申请日: 2020-08-07
公开(公告)号: CN112051560B 公开(公告)日: 2022-11-22
发明(设计)人: 朱琳;任亚林;牛犇;汪敬 申请(专利权)人: 深圳市速腾聚创科技有限公司
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G02B27/00;G02F1/29
代理公司: 北京恒博知识产权代理有限公司 11528 代理人: 张晓芳
地址: 518000 广东省深圳市南山区留*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 相控阵 相位 误差 校准 方法 装置 存储 介质 激光雷达
【说明书】:

本申请实施例公开了一种相控阵相位误差的校准方法、装置、存储介质及激光雷达,其中方法包括:获取相控阵天线阵列中各路天线的当前相位,基于所述各路天线的当前相位计算所述相控阵天线阵列在远场中心角度处的当前光强值;获取所述各路天线的历史相位,基于所述各路天线的历史相位计算所述相控阵天线阵列在远场中心角度处的历史光强值;基于所述当前光强值以及所述历史光强值,确定所述各路天线需要补偿的相位值,基于所述相位值对所述各路天线的当前相位进行校准。采用本申请实施例,通过计算相控阵各路天线需要补偿的相位值以对校准相控阵相位误差进行优化,实现了相控阵相位误差的校准,优化远场图质量,整个优化过程操作简单。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域,尤其涉及一种相控阵相位误差的校准方法、装置、存储介质及激光雷达。

背景技术

光学相控阵因具有小尺寸,低能耗,高扫描速度等特点,在近距探测、测距等方面具有广阔的研究前景。

受限于目前波导的加工工艺,在制造过程中,由于波导侧壁和上下表面粗糙、波导非均匀、临近波导间耦合等太多的因素会带来相位误差,均会影响出射单元的相位及幅度关系,引入额外的相位误差,使得最终的远场辐射结果中出现过高的旁瓣信号,消弱主瓣信号的能量,对主瓣信号造成干扰,从而导致相控阵阵元相位的散乱分布,在CCD接收机上的远场分布往往强度是散乱的。

发明内容

本申请实施例提供了一种相控阵相位误差的校准方法、装置、存储介质及系统,通过计算相控阵各路天线需要补偿的相位值以对校准相控阵相位误差进行优化,实现了相控阵相位误差的校准,优化远场图质量,整个优化过程操作简单。所述技术方案如下:

第一方面,本申请实施例提供了一种相控阵相位误差的校准方法,所述方法包括:

获取相控阵天线阵列中各路天线的当前相位,基于所述各路天线的当前相位计算所述相控阵天线阵列在远场中心角度处的当前光强值;

获取所述各路天线的历史相位,基于所述各路天线的历史相位计算所述相控阵天线阵列在远场中心角度处的历史光强值;

基于所述当前光强值以及所述历史光强值,确定所述各路天线需要补偿的相位值,基于所述相位值对所述各路天线的当前相位进行校准。

第二方面,本申请实施例提供了一种相控阵相位误差的校准装置,所述装置包括:

当前光强值获取模块,用于获取相控阵天线阵列中各路天线的当前相位,基于所述各路天线的当前相位计算所述相控阵天线阵列在远场中心角度处的当前光强值;

历史光强值获取模块,用于获取所述各路天线的历史相位,基于所述各路天线的历史相位计算所述相控阵天线阵列在远场中心角度处的历史光强值;

相位校准模块,用于基于所述当前光强值以及所述历史光强值,确定所述各路天线需要补偿的相位值,基于所述相位值对所述各路天线的当前相位进行校准。

第三方面,本申请实施例提供一种计算机存储介质,所述计算机存储介质存储有多条指令,所述指令适于由处理器加载并执行上述的所述的线性扫频校正方法。

第四方面,本申请实施例提供一种激光雷达,可包括:处理器和存储器;其中,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行上述的所述的相控阵相位误差的校准方法。

本申请一些实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括:

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