[发明专利]数据的写入方法及其数据存储装置在审
| 申请号: | 202010777138.8 | 申请日: | 2020-08-05 |
| 公开(公告)号: | CN113885777A | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
| 发明(设计)人: | 黄圣元 | 申请(专利权)人: | 慧荣科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06;G06F11/10 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈亮 |
| 地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 数据 写入 方法 及其 存储 装置 | ||
一种数据的写入方法及其数据存储装置。数据存储装置包括数据存储媒体及耦接于数据存储媒体的控制单元,其中数据存储媒体包括多个数据列及至少一损坏数据列。控制单元依据周期参数及损坏参数,以将数据写入至数据存储媒体的多个数据列,其中周期参数存储具有第一错误率的预定周期,损坏参数存储在预定周期中错误率大于等于预定错误率的至少一损坏数据列的位置。
技术领域
本发明涉及一种数据的写入方法及其数据存储装置,尤其涉及一种具有周期性损坏数据列的数据存储媒体的数据的写入方法及其数据存储装置。
背景技术
一般而言,存储装置,例如是固态硬盘(Solid State Drive,SSD)、SD存储卡(Secure Digital Memory Card)或闪存盘(USB)等,主要是由控制单元与数据存储媒体所构成。数据存储媒体是由多个数据列(column)所构成,而这些数据列则是用来存储数据。存储装置在制造的过程中,难免会生产出一些未达原厂合格标准的数据存储媒体,而被归类为次级(Downgrade)品。这些次级品在贩卖给消费者之前,都会先将数据存储媒体中损坏数据列(bad column)侦测出来,并将它标注或记录至损坏数据列表。控制单元便可根据损坏数据列表,跳过这些已标注或已记录的损坏数据列,不对这些损坏数据列进行数据的写入,借此避免发生存取数据错误的情况。
然而,在这些次级品中通常会出现周期性损坏数据列的现象,亦即每隔一段区间会出现一个损坏数据列。值得注意的是,当周期很短时,将产生大量的损坏数据列,而这些大量的损坏数据列远远超过硬件可以标注的数量。倘若使用旧有的方式将侦测出来的损坏数据列一个一个地标注或记录下来,将需要花费大量的内存空间来记录损坏数据列的位置。举例来说,倘若一个数据页(page)有18000个数据列,而每间隔8个数据列会有一个数据列是损坏的,总共会有2250个损坏数据列。因此一个存储矩阵(plane)需要2250个字节(4500Bytes)来记录损坏数据列的位置。更进一步来说,倘若数据存储媒体配置16颗规格颗粒及4个存储矩阵,则数据存储媒体需要288KBytes来记录损坏数据列的位置,而此容量却远大于一般控制器所内建的静态随机存取内存(SRAM)的容量大小。此外,损坏数据列的标注或记录的数量受限于硬件,倘若可标注的数量用完时,数据存储媒体中这些剩余未标注的损坏数据列,将可能消耗糾錯碼(Error Correcting Code,ECC)的糾錯能力,造成原本可以糾錯的数据无法被适当的糾錯。
因此,对于具有周期性损坏数据列的数据存储媒体,如何在有限的硬件可标注的损坏数据列的数量限制下,提供一种可以大幅降低记录损坏数据列位置所需花费的内存容量的方法,将是本案所要着重的问题与解决的重点。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供一种数据的写入方法,适用于数据存储媒体,数据存储媒体耦接于控制单元,且数据存储媒体包括多个数据列及至少一损坏数据列,数据的写入方法包括:控制单元依据周期参数及损坏参数,以将数据写入至数据存储媒体的多个数据列,其中周期参数存储具有第一错误率的预定周期,损坏参数存储在预定周期中错误率大于等于预定错误率的至少一损坏数据列的位置。
在本发明的一实施例中,其中周期参数及损坏参数存储于数据存储媒体中。
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