[发明专利]数据的写入方法及其数据存储装置在审

专利信息
申请号: 202010777138.8 申请日: 2020-08-05
公开(公告)号: CN113885777A 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 黄圣元 申请(专利权)人: 慧荣科技股份有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06;G06F11/10
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈亮
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 数据 写入 方法 及其 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种数据的写入方法,适用于一数据存储媒体,所述数据存储媒体耦接于一控制单元,其特征在于,所述数据存储媒体包括多个数据列及至少一损坏数据列,所述数据的写入方法包括:

所述控制单元依据一周期参数及一损坏参数,以将一数据写入至所述数据存储媒体的所述多个数据列,其中所述周期参数存储具有一第一错误率的一预定周期,所述损坏参数存储在所述预定周期中错误率大于等于一预定错误率的所述至少一损坏数据列的位置。

2.如权利要求1所述的数据的写入方法,其特征在于,所述周期参数及所述损坏参数存储于所述数据存储媒体中。

3.如权利要求1所述的数据的写入方法,其特征在于,在所述控制单元依据所述周期参数及所述损坏参数,以将所述数据写入至所述数据存储媒体的所述多个数据列的步骤前,还包括:

所述控制单元设定侦测所述至少一损坏数据列的一预定周期范围;

所述控制单元依据所述预定周期,将所述多个数据列划分为X个周期,其中所述预定周期是选自于所述预定周期范围,X为所述多个数据列除以所述预定周期且X为正整数,且所述X个周期中的每一个周期具有T个数据列,其中T为所述预定周期且T为正整数;

所述控制单元分别统计所述多个数据列在所述X个周期中损坏的数量,以取得所述多个数据列所对应的一损坏数据列总数;

所述控制单元分别将所述多个数据列所对应的所述损坏数据列总数作归一化,以分别计算出所述多个数据列在所述预定周期条件下的错误率,并分别将所述多个错误率记录至一错误率记录表中;

所述控制单元判断所述预定周期的数值是否大于等于所述预定周期范围的上限值;以及

当判断为是时,所述控制单元从所述错误率记录表中选取具有所述第一错误率的所述预定周期并存储至所述周期参数,以及在所述预定周期中选取错误率大于等于所述预定错误率的所述至少一损坏数据列并将所述至少一损坏数据列的位置存储至所述损坏参数。

4.如权利要求3所述的数据的写入方法,其特征在于,在所述控制单元判断所述预定周期的数值是否大于等于所述预定周期范围的上限值的步骤后,还包括:

当判断为否时,所述控制单元调整所述预定周期的数值,并执行所述控制单元依据所述预定周期将所述多个数据列划分为所述X个周期的步骤。

5.一种数据存储装置,其特征在于,包括:

一数据存储媒体,包括多个数据列及至少一损坏数据列;以及

一控制单元,耦接于所述数据存储媒体,所述控制单元依据所述周期参数及所述损坏参数,以将一数据写入至所述数据存储媒体的所述多个数据列,其中所述周期参数存储具有一第一错误率的一预定周期,所述损坏参数存储在所述预定周期中错误率大于等于一预定错误率的所述至少一损坏数据列的位置。

6.如权利要求5所述的数据存储装置,其特征在于,所述周期参数及所述损坏参数存储于所述数据存储媒体中。

7.如权利要求5所述的数据存储装置,其特征在于,所述控制单元还包括:

设定侦测所述至少一损坏数据列的一预定周期范围;

依据所述预定周期,将所述多个数据列划分为X个周期,其中所述预定周期是选自于所述预定周期范围,X为所述多个数据列除以所述预定周期且X为正整数,且所述X个周期中的每一个周期具有T个数据列,其中T为所述预定周期且T为正整数;

分别统计所述多个数据列在所述X个周期中损坏的数量,以取得所述多个数据列所对应的一损坏数据列总数;

分别将所述多个数据列所对应的所述损坏数据列总数作归一化,以分别计算出所述多个数据列在所述预定周期条件下的错误率,并分别将所述多个错误率记录至一错误率记录表中;

判断所述预定周期的数值是否大于等于所述预定周期范围的上限值;以及

当判断为是时,从所述错误率记录表中选取具有所述第一错误率的所述预定周期并存储至所述周期参数,以及在所述预定周期中选取错误率大于等于所述预定错误率的所述至少一损坏数据列并将所述至少一损坏数据列的位置存储至所述损坏参数。

8.如权利要求7所述的数据存储装置,其特征在于,所述控制单元还包括:

当判断为否时,调整所述预定周期的数值,并执行依据所述预定周期将所述多个数据列划分为所述X个周期。

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