[发明专利]固态硬盘的磨损度数据模拟方法、系统及相关设备

说明书

本申请公开了一种固态硬盘的磨损度数据模拟方法，所述磨损度数据模拟方法包括对固态硬盘中的原始主机写入量数据执行数据延长操作，得到每一数据写入周期待写入所述固态硬盘中的候选数据；确定所述固态硬盘的周期写放大信息；根据所述候选数据和所述周期写放大信息计算所述固态硬盘在所有数据写入周期的实际写入数据总量；根据所述实际写入数据总量确定所述固态硬盘的磨损度。本申请能够模拟固态硬盘磨损度变化数据，以便预测固态硬盘寿命。本申请还公开了一种固态硬盘的磨损度数据模拟系统、一种电子设备及一种存储介质，具有以上有益效果。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别涉及一种固态硬盘的磨损度数据模拟方法、系统、一种电子设备及一种存储介质。

背景技术

固态硬盘(SSD，Solid State Disk)是一种主要以闪存(NAND Flash)作为永久性存储器的电脑存储设备。基于闪存的固态硬盘(SSD)自问世以来就因其高性能而得到广泛追捧，固态硬盘的使用寿命成为存储业界普遍关注的问题。

磨损度是表征固态硬盘中NAND磨损情况的一个重要指标。根据厂商规定，磨损度达到100％则代表固态硬盘寿命达到厂商承诺的上限，即使此时固态硬盘并没有发生损坏，其可靠性也得不到保障。在实际的固态硬盘寿命预测研究及开发测试过程中，真实的固态硬盘磨损度数据很难收集，无法获取固态硬盘在各个时间点的磨损度。

因此，如何模拟固态硬盘磨损度变化数据是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种固态硬盘的磨损度数据模拟方法、系统、一种电子设备及一种存储介质，能够模拟固态硬盘磨损度变化数据。

为解决上述技术问题，本申请提供一种固态硬盘的磨损度数据模拟方法，该磨损度确定方法包括：

对固态硬盘中的原始主机写入量数据执行数据延长操作，得到每一数据写入周期待写入所述固态硬盘中的候选数据；

确定所述固态硬盘的周期写放大信息；其中，所述周期写放大信息包括所述固态硬盘在每一数据写入周期的写放大系数；

根据所述候选数据和所述周期写放大信息计算所述固态硬盘在所有数据写入周期的实际写入数据总量；

根据所述实际写入数据总量确定所述固态硬盘的磨损度。

可选的，所述对固态硬盘中的原始主机写入量数据执行数据延长操作，得到每一数据写入周期待写入所述固态硬盘中的候选数据，包括：

根据所述固态硬盘中所述原始主机写入量数据的写入时间确定所述固态硬盘的周期数据增长信息；其中，所述周期数据增长信息包括所述固态硬盘在每一数据写入周期的数据增长量；

从所述原始主机写入量数据对应的数据写入周期中选取任意数量个数据写入周期作为目标周期；

根据所述周期数据增长信息将每一所述目标周期对应的数据增长量作为下一数据写入周期要写入所述固态硬盘中的候选数据；

判断已得到的候选数据的数量是否大于预设值；

若是，则判定所有周期要写入所述固态硬盘中的候选数据生成完毕；

若否，则执行从所述原始主机写入量数据对应的数据写入周期中选取任意数量个数据写入周期作为目标周期的操作。

可选的，确定所述固态硬盘的周期写放大信息，包括：

利用坏块概率公式确定所述固态硬盘在每一数据写入周期的坏块数量；其中，所述坏块概率公式为y＝(x-b)²，x为数据写入周期的周期数，y为第x周期出现坏块的概率，b为大于0的预设参数；

根据坏块数量与写放大系数的对应关系确定所述固态硬盘的周期写放大信息。