[发明专利]固态硬盘的磨损度数据模拟方法、系统及相关设备

权利要求书

1.一种固态硬盘的磨损度数据模拟方法，其特征在于，包括：

对固态硬盘中的原始主机写入量数据执行数据延长操作，得到每一数据写入周期待写入所述固态硬盘中的候选数据；

确定所述固态硬盘的周期写放大信息；其中，所述周期写放大信息包括所述固态硬盘在每一数据写入周期的写放大系数；

根据所述候选数据和所述周期写放大信息计算所述固态硬盘在所有数据写入周期的实际写入数据总量；

根据所述实际写入数据总量确定所述固态硬盘的磨损度；

其中，所述对固态硬盘中的原始主机写入量数据执行数据延长操作，得到每一数据写入周期待写入所述固态硬盘中的候选数据，包括：

根据所述固态硬盘中所述原始主机写入量数据的写入时间确定所述固态硬盘的周期数据增长信息；其中，所述周期数据增长信息包括所述固态硬盘在每一数据写入周期的数据增长量；

从所述原始主机写入量数据对应的数据写入周期中选取任意数量个数据写入周期作为目标周期；

根据所述周期数据增长信息将每一所述目标周期对应的数据增长量作为下一数据写入周期要写入所述固态硬盘中的候选数据；

判断已得到的候选数据的数量是否大于预设值；

若是，则判定所有周期要写入所述固态硬盘中的候选数据生成完毕；

若否，则执行从所述原始主机写入量数据对应的数据写入周期中选取任意数量个数据写入周期作为目标周期的操作。

2.根据权利要求1所述磨损度数据模拟方法，其特征在于，确定所述固态硬盘的周期写放大信息，包括：

利用坏块概率公式确定所述固态硬盘在每一数据写入周期的坏块数量；其中，所述坏块概率公式为y=（x-b）²，x为数据写入周期的周期数，y为第x周期出现坏块的概率，b为大于0的预设参数；

根据坏块数量与写放大系数的对应关系确定所述固态硬盘的周期写放大信息。

3.根据权利要求2所述磨损度数据模拟方法，其特征在于，根据坏块数量与写放大系数的对应关系确定所述固态硬盘的周期写放大信息，包括：

利用写放大系数公式计算所述固态硬盘的周期写放大信息；

其中，所述写放大系数公式为wa = scale1* ( errors - errors_min) + wa_min；wa为当前数据写入周期的写放大系数，scale1为第一缩放系数，errors为当前数据写入周期的坏块数量，errors_min为坏块数最小值，wa_min为写放大系数最小值，scale1=(wa_max -wa_min)/( errors_max - errors_min)，wa_max为写放大系数最大值，errors_max为坏块数最大值。

4.根据权利要求1所述磨损度数据模拟方法，其特征在于，根据所述候选数据和所述周期写放大信息计算所述固态硬盘在所有数据写入周期的实际写入数据总量，包括：

根据所述候选数据和所述周期写放大信息计算同一数据写入周期内候选数据的字节数与写放大系数的乘积，得到每一数据写入周期的实际写入数据量；

累加每一数据写入周期的实际写入数据量得到所有数据写入周期的实际写入数据总量。

5.根据权利要求1所述磨损度数据模拟方法，其特征在于，根据所述实际写入数据总量确定所述固态硬盘的磨损度，包括：

利用磨损转换公式得到磨损度计算值，并对所述磨损度计算值向上取整得到所述固态硬盘的磨损度；

其中，所述磨损转换公式为wearout =100 – scale2 * ( writes - writes_min)，wearout为当前数据写入周期的磨损度计算值，scale2为第二缩放系数，writes为实际写入数据总量，writes_min为实际写入数据总量的最小值， scale2=100/（writes_max -writes_min)，writes_max为实际写入数据总量的最大值。

6.根据权利要求1至5任一项所述磨损度数据模拟方法，其特征在于，在根据所述实际写入数据总量确定所述固态硬盘的磨损度之后，还包括：

根据所述固态硬盘的磨损度对所述固态硬盘进行寿命预测。