[发明专利]一种定点跟踪分析夹杂物的方法

说明书

一种定点跟踪分析夹杂物的方法；包括：标识步骤：将金相试样在不腐蚀的状态下，通过显微维氏硬度计观察，在要跟踪分析的夹杂物的四周，打上标识点；定位步骤：将经标识的金相试样放在金相显微镜下，通过标识点的位置确定夹杂物的位置并进行观察；高温激光扫描步骤：将经标识的金相试样放入高温共聚焦显微镜内，通过标识点的位置确定夹杂物的位置，调好视场；设置升温的条件，观察夹杂物随温度升温的变化；半定量分析步骤：将经标识的金相试样放入电镜内，通过标识点的位置确定夹杂物的位置，用电镜能谱对夹杂物进行半定量的分析；该方法通过标识点可以快速定位夹杂物，确保在不同的分析仪器进行不同的分析方法时方便找到而且一直保存有效。

技术领域

本发明涉及一种金属或合金的分析方法，更具体地说，它涉及一种定点跟踪分析夹杂物的方法。

背景技术

现有的夹杂物分析方法主要有：金相法：切取合符要求的金相试样，经过磨平、粗磨、细磨、抛光制样过程，制得符合要求的金相试样，在不腐蚀的状态下，在金相显微镜下观察，并对照图谱进行评级。这种方法只能是平面上的定性评级，不能定量分析。电镜能谱法：把制得符合要求的金相试样，在不腐蚀的状态下放进电镜内，可以用电镜描观察夹杂物形貌、用能谱进行半定量分析夹杂物的成分类型。这种方法也是平面上的静态分析方法。电解法：这种方法又分为大样电解与小样电样法。其原理是一样的，是取一个试样，用电解的方法，把夹杂物提取、分离和富集分析钢中夹杂物，然后再利用电镜定量、定性分析钢中夹物。给出夹杂物类型、化学组分、形态、含量、尺寸、数量、分布、粒度体积分布等，通过综合分析确定夹杂物的来源(内生夹杂类型、炉渣、耐材等)，这种方法可以得到单位体积内的夹杂物情况。高温共聚焦原位观察法：这是一种观察夹杂物升温状态下，夹杂物随温度的升高，会出现的变化；或降温状态下，观察夹杂物的析出过程变化。

现有夹杂物分析技术，一般都不会单独使用，一般会2种或2种以上分析方法一起使用，比如使用金相显微镜法、电镜法、高温共聚集显微镜法3种分析方法一起对夹杂物进行分析研究，这样可以做到定性、半定量、原位高温状态变化观察都能实现，对夹杂物的分析能更全面。但这种方法有个难点：因为金相法、高温共聚焦的放大倍数是几百倍到上倍，电镜的放在倍数更大，所以很难跟踪到在此3种方法中分析的夹杂物是同一个夹杂物，这样对研究分析的意义就会打折扣。

因此从头到尾跟踪到金相法、电镜法、高温共聚焦法下同1颗夹杂物的变化，则对于夹杂物的研究就会有很高的科研价值。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种定点跟踪分析夹杂物的方法，通过标识点可以快速定位夹杂物，确保在不同的分析仪器进行不同的分析方法时方便找到而且一直保存有效。

本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种定点跟踪分析夹杂物的方法，包括：

标识步骤：将金相试样在不腐蚀的状态下，通过显微维氏硬度计观察，在要跟踪分析的夹杂物的四周，打上标识点进行标识；

定位步骤：将经标识的金相试样放在金相显微镜下，通过标识点的位置确定夹杂物的位置并进行观察；

高温激光扫描步骤：将经标识的金相试样放入高温共聚焦显微镜内，通过标识点的位置确定夹杂物的位置，调好视场；设置升温的条件，观察夹杂物随温度升温的变化；

半定量分析步骤：将经标识的金相试样放入电镜内，通过标识点的位置确定夹杂物的位置，用电镜能谱对夹杂物进行半定量的分析。

在其中一个实施例中，标识步骤中，金相试样在观察前，需经过磨平、粗磨、细磨、抛光制样。

在其中一个实施例中，标识步骤中，所述标识点为围绕夹杂物的三个点。

在其中一个实施例中，标识步骤中，所述标识点为围绕夹杂物的四个点。

在其中一个实施例中，标识步骤中，四个所述标识点呈口字型围绕夹杂物。