[发明专利]鞘流阻抗粒子分析仪及其样本测量方法

说明书

本发明提供鞘流阻抗粒子分析仪及其样本测量方法，其包括预混池、样本针、鞘流阻抗计数池、鞘液池、后鞘隔离池、后鞘废液池及废液池，在测量过程中后鞘隔离池、后鞘废液池及废液池处于密闭环境且常压状态。本发明可以精简鞘流阻抗粒子分析仪的结构，实现后鞘废液池的排空操作与鞘流阻抗计数池的测量操作并行执行，从而达到提升样本测量速度且减少仪器成本及体积的双重目的。

本申请要求于2020年07月03日提交中国专利局、申请号为202010635511.6、发明名称为“鞘流阻抗法粒子分析仪及其液位初始化方法”的中国专利申请的优先权，其全部内容通过引用结合在本申请中。

技术领域

本发明涉及粒子分析设备技术领域，尤其涉及鞘流阻抗粒子分析仪及其样本测量方法。

背景技术

现有的鞘流阻抗法粒子分析仪一般包括预混池、样本针、鞘流阻抗计数池、后鞘废液池以及废液池等部件。

鞘流阻抗法粒子分析仪的测量过程主要包括：对预混池进行清洗并排废至废液池、对鞘流阻抗计数池进行清洗并排废至废液池和后鞘废液池、样本加样到预混池混匀、样本针准备样本、前后鞘液形成、样本针推样至鞘流阻抗计数池进行测量、测量过程中排液至后鞘废液池、后鞘废液池排废液等。

发明内容

参见图1，现有技术中的鞘流阻抗计数池包括前池、后池、前池与后池之间的隔板、隔板设置有宝石孔。与鞘流阻抗计数池的后池相连的后鞘通道一般会包括两个隔离池：用于对后池鞘液口注入鞘液的后鞘隔离池，和，收集后池废液口排出废液的后鞘废液池。

在样本测量操作或者清洗鞘流阻抗计数池过程中，后鞘废液池会收集一定量的废液，为了避免影响后续样本测量操作，需要对后鞘废液池执行排空操作。

请结合图1，操作过程可以包括：关闭阀V10、以隔绝后鞘废液池和鞘流阻抗计数池，开启废液池与负压源之间的控制阀(图1未示出)、开启阀V7和阀V11、将后鞘废液池与废液池中的负压源导通，持续一定时间后便可将后鞘废液池排空，然后关闭废液池与负压源之间的控制阀、关闭V7和阀V11，并打开阀V10。

使用负压排空后鞘废液池之前必须关闭阀V10，以保证鞘流阻抗计数池不受负压影响(鞘流阻抗计数池中产生负压会影响样本测量)，并且，排空后鞘废液池后关闭V7和阀V11以将后鞘废液池恢复为常压状态，打开阀V10以便鞘流阻抗计数池可以在常压状态下进行测量，且，鞘流阻抗计数池中废液可以通过阀V10流入后鞘废液池中。

并且，在使用负压源对后鞘废液池排液过程中，必须打开阀V11保持一定的抽气流量，以保证后鞘废液池中的废液被抽走，否则负压排液一段时间后，后鞘废液池中压力平衡(无负压)，后鞘废液池变为密闭空间，无法继续排液。

由于关闭阀V10和负压环境下鞘流阻抗计数池无法进行测量，所以在使用负压源排空后鞘废液池之前，需要停止鞘流阻抗计数池中的测量操作，也即排空操作需要在测量操作之外独立进行，测量操作和排空操作无法并行实现，导致影响样本测量效率不高。并且，鞘流阻抗法粒子分析仪需要设置阀V10和阀V11才能够实现排空操作，这导致鞘流阻抗法粒子分析仪的仪器成本及体积增加。

鉴于此，本发明提供一种鞘流阻抗粒子分析仪及其样本测量方法，在现有鞘流阻抗法粒子分析仪基础上，可以删除阀V10和阀V11，并且，实现后鞘废液池的排空操作与鞘流阻抗计数池的测量操作并行执行，以便提升样本测量速度且减少仪器成本及体积。

为了解决上述技术问题，本发明提供以下技术特征：

为了实现上述目的，本发明提供了下述技术特征：

一种鞘流阻抗粒子分析仪，包括：

预混池、样本针、鞘流阻抗计数池、鞘液池、后鞘隔离池、后鞘废液池及废液池，所述预混池连接于所述样本针的输入口；