[发明专利]研磨用固定环以及研磨头在审

专利信息
申请号: 202010695884.2 申请日: 2020-07-17
公开(公告)号: CN111644977A 公开(公告)日: 2020-09-11
发明(设计)人: 康大沃;张月;杨涛;卢一泓;刘青 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所;真芯(北京)半导体有限责任公司
主分类号: B24B37/26 分类号: B24B37/26;B24B37/34;B24B41/047
代理公司: 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 代理人: 陈晓瑜
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 研磨 固定 以及
【说明书】:

发明提供一种研磨用固定环,包括:环形主体;所述环形主体至少在下表面和内表面之间具有第一过渡区域,所述第一过渡区域的内侧高度高于所述第一过渡区域的外侧高度,所述第一过渡区域的由所述表面向所述下表面平滑过渡。本发明提供的研磨用固定环能够避免抛光垫的形变对晶圆边缘的过度研磨。

技术领域

本发明涉及研磨技术领域,尤其涉及一种研磨用固定环以及研磨头。

背景技术

现有的化学机械抛光系统使用夹具组件进行化学机械抛光(CMP)。抛光头位于顶部上,并且在水平面中具有环形形状。固定环包围着抛光头的圆周。通过利用真空将晶圆固定在抛光头上,将圆形的半导体晶圆装载到夹具中,其中,晶圆位于固定环中。然后,通过将晶圆暴露出的表面接触压盘(platen)上的抛光垫,闭合夹具系统。然后,将晶圆相对于抛光垫移动,从而实施抛光。

由于抛光垫具有一定的柔性,在固定环对抛光垫施加压力时,抛光垫在固定环的两侧发生形变而隆起,该隆起部分会造成对晶圆边缘的过度研磨,影响晶圆的研磨结果。

发明内容

本发明提供的研磨用固定环以及研磨头,能够避免抛光垫的形变对晶圆边缘的过度研磨。

第一方面,本发明提供一种研磨用固定环,包括:环形主体;

所述环形主体至少在下表面和内表面之间具有第一过渡区域,所述第一过渡区域的内侧高度高于所述第一过渡区域的外侧高度,所述第一过渡区域由所述内表面向所述下表面平滑过渡。

可选地,所述环形主体进一步在所述下表面和外表面之间具有第二过渡区域,所述第二过渡区域的外侧高度高于所述第二过渡区域的内侧高度,所述第二过渡区域由所述外表面向所述内表面平滑过渡。

可选地,所述第一过渡区域为与所述下表面和所述内表面相接的圆角,所述第二过渡区域为与所述下表面和外表面相接的圆角。

可选地,所述第一过渡区域的圆角半径与所述底面宽度之比为1:99~99:1;或者,

所述第一过渡区域和所述第二过渡区域的圆角半径之和与所述底面宽度之比为1:99~99:1。

可选地,所述环形主体的内径与外径之差为1cm~10cm。

可选地,所述环形主体采用层叠设置的复合材料制成,其中,所述第一过渡区域设置在与研磨垫接触的一层材质上。

可选地,所述复合材料为聚醚醚酮和不锈钢的复合材料;或者,

所述复合材料为聚苯硫醚和不锈钢的复合材料。

本发明提供的研磨用固定环,通过在环形主体的内表面与下表面之间形成第一过渡区域,并且第一过渡区域的内侧高度高于外侧高度;当固定环向抛光垫施加压力时,固定环的下表面接触抛光垫,抛光垫的由于受到压力发生形变,从而抛光垫在固定环下表面两侧的部分发生隆起,此时,由于固定环具有第一过渡区域,且第一过渡区域的内侧高于外侧,该隆起的部分将容纳在第一过渡区域下方,从而不会影响晶圆边缘的研磨。

第二方面,本发明提供一种研磨头,包括:

承载结构;

设置在承载结构下表面并与所述承载结构连接的竖向驱动机构;以及,

如上述任意一项所述研磨用固定环;所述研磨用固定环环绕所述竖向驱动机构设置并与所述承载结构连接。

可选地,所述竖向驱动机构用于驱动晶圆在竖直方向上运动,以使所述待研磨件下表面与所述固定环的下表面形成台阶。

可选地,所述研磨用固定环的第一过渡区域与所述待研磨件的边缘间隔设置。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所;真芯(北京)半导体有限责任公司,未经中国科学院微电子研究所;真芯(北京)半导体有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010695884.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top