[发明专利]边缘检测方法及装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种边缘检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取至少两张待处理图像，其中，所述至少两张待处理图像包括：第一待处理图像和第二待处理图像；

获取第一边缘数据和第二边缘数据，其中，所述第一边缘数据携带的信息包括第一像素点所在位置的边缘方向，所述第二边缘数据携带的信息包括第二像素点所在位置的边缘方向，所述第一像素点属于所述第一待处理图像，所述第二像素点为所述第二待处理图像中与所述第一像素点互为同名点的像素点；

对所述第一边缘数据和所述第二边缘数据进行融合处理得到第三边缘数据，其中，所述第三边缘数据携带的信息包括：第三像素点所在位置的边缘方向，所述第三像素点为第三待处理图像中与所述第一像素点互为同名点的像素点，所述第三待处理图像通过将所述第一待处理图像和所述第二待处理图像融合得到。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取第一边缘数据和第二边缘数据，包括：

对第一像素点邻域进行边缘检测处理，得到所述第一边缘数据，其中，所述第一像素点邻域为所述第一待处理图像中基于第一像素点构建的像素点邻域；

对第二像素点邻域进行边缘检测处理，得到第二边缘数据，其中，所述第二像素点邻域为所述第二待处理图像中基于第二像素点构建的像素点邻域。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述第一像素点邻域进行边缘检测处理得到所述第一边缘数据，以及所述对所述第二像素点邻域进行边缘检测处理得到所述第二边缘数据，包括：

确定所述第一像素点邻域的第一结构矩阵，作为所述第一边缘数据；

确定所述第二像素点邻域的第二结构矩阵，作为所述第二边缘数据；

所述对所述第一边缘数据和所述第二边缘数据进行融合处理得到第三边缘数据，包括：

依据所述第一结构矩阵和所述第二结构矩阵，得到第三结构矩阵；

对所述第三结构矩阵进行主成分分析处理，得到所述第三边缘数据。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一像素点的第一结构矩阵，以及所述确定所述第二像素点的第二结构矩阵，包括：

确定所述第一像素点邻域的第一梯度，确定所述第二像素点邻域的第二梯度；

依据所述第一梯度，得到所述第一结构矩阵；

依据所述第二梯度，得到所述第二结构矩阵。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述第一像素点邻域为中心对称区域，且所述第一像素点邻域的对称中心为所述第一像素点的中心。

6.根据权利要求1至5中任意一项所述的方法，其特征在于，所述第一边缘数据携带的信息还包括所述第一像素点所在位置的边缘强度，所述第二边缘数据携带的信息还包括所述第二像素点所在位置的边缘强度，所述第三边缘数据携带的信息还包括所述第三像素点所在位置的边缘强度。

7.根据权利要求1至6中任意一项所述的方法，其特征在于，所述获取至少两张待处理图像，包括：

获取第四待处理图像，其中，所述第四待处理图像包含至少两个通道；

提取所述至少两个通道中的待处理通道，得到所述第一待处理图像。

8.一种边缘检测装置，其特征在于，所述装置包括：

第一获取单元，用于获取至少两张待处理图像，其中，所述至少两张待处理图像包括：第一待处理图像和第二待处理图像；

第二获取单元，用于获取第一边缘数据和第二边缘数据，其中，所述第一边缘数据携带的信息包括第一像素点所在位置的边缘方向，所述第二边缘数据携带的信息包括第二像素点所在位置的边缘方向，所述第一像素点属于所述第一待处理图像，所述第二像素点为所述第二待处理图像中与所述第一像素点互为同名点的像素点；

处理单元，用于对所述第一边缘数据和所述第二边缘数据进行融合处理得到第三边缘数据，其中，所述第三边缘数据携带的信息包括：第三像素点所在位置的边缘方向，所述第三像素点为第三待处理图像中与所述第一像素点互为同名点的像素点，所述第三待处理图像通过将所述第一待处理图像和所述第二待处理图像融合得到。