[发明专利]一种大晶畴尺寸WS2 在审
申请号: | 202010475686.5 | 申请日: | 2020-05-29 |
公开(公告)号: | CN111501097A | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | 兰飞飞;王再恩;董增印;张嵩;王健;张胜男;李轶男;霍晓青 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
主分类号: | C30B25/00 | 分类号: | C30B25/00;C30B29/46 |
代理公司: | 天津中环专利商标代理有限公司 12105 | 代理人: | 王凤英 |
地址: | 300220*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 大晶畴 尺寸 ws base sub | ||
1.一种大晶畴尺寸WS2单晶的生长方法,其特征在于,在WS2单晶生长过程中采用半封闭方式提高W源过饱和度,进而实现WS2晶畴尺寸的扩大,其晶体生长过程按照以下步骤完成:
第一步、使用电子天平将一定量的硫粉置于料瓶中;
第二步、使用电子天平将一定量的WO3粉末置于石英舟中,将衬底生长面向下放置在石英舟表面;
第三步、将装有衬底与WO3粉末的石英舟置于一端开口的半封闭石英管中;
第四步、将半封闭石英管放入CVD生长系统中;对CVD生长系统进行抽真空处理,当系统内压力为0mbar时,通入Ar气进行吹扫,Ar气流量为500sccm;
第五步、将Ar气流量降至100sccm-150sccm,系统内压力保持在10-20mbar;
第六步、对系统进行升温,将系统温度升至900℃-1000℃,达到生长温度后开始对硫粉进行加热,加热温度控制在190℃-250℃;
第七步,硫粉温度达到设定温度后,向系统内通入硫蒸汽,开始进行WS2单晶的生长,生长时间为20min-50min;
第八步,生长结束,降温,取样。
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