[发明专利]提升固态硬盘数据通路可靠性的方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.提升固态硬盘数据通路可靠性的方法，其特征在于，包括以下步骤：

NVMe接收主机发出的命令；

判断主机发出的命令是否为写命令；

若为写命令，则NVMe将待写入数据从主机取出，并对待写入数据增加校验位，将增加校验位后的待写入数据存储至DRAM，同时将写命令传递至FTL；

FTL根据写命令更新映射表，并将写命令传递至NFC；

NFC从DRAM中取出待写入数据，并对待写入数据进行校验；

判断待写入数据校验是否通过；

若是通过，将待写入数据写入闪存中；

若未通过，则进行错误处理；

其中，NVMe对每笔从主机到DRAM的数据，即待写入数据，均调用校验模块，在写入DRAM时加入校验比特，具体开销由校验算法决定；校验算法为奇偶校验算法、汉明校验算法、MD5校验算法、异或校验算法、循环冗余校验算法的其中一种，校验位为校验比特，其比特大小根据实际需要进行设定；其中，NFC从DRAM中取出待写入数据时，调用校验模块进行检错，使用同一校验算法对该笔数据重新进行校验，再跟DRAM中已有的校验比特进行对比。

2.根据权利要求1所述的提升固态硬盘数据通路可靠性的方法，其特征在于，所述步骤“判断主机发出的命令是否为写命令”中，若不为写命令，则NVMe将主机发出的命令传递至FTL；

FTL根据命令查询映射表中的对应项，将映射结果更新至命令中，并将更新后的命令传递至NFC；

NFC将待读取数据从闪存中读出，并对待读取数据增加校验位，将增加校验位后的待读取数据存储至DRAM，同时将命令处理结果通过FTL传递至NVMe；

NVMe从DRAM中取出待读取数据，并对待读取数据进行校验；

判断待读取数据校验是否通过；

若是通过，将待读取数据搬移至主机缓存中；

若未通过，则进行错误处理。

3.根据权利要求2所述的提升固态硬盘数据通路可靠性的方法，其特征在于，所述NVMe通过PCIE接口将待写入数据从主机取出或将待读取数据搬移至主机缓存中。

4.根据权利要求3所述的提升固态硬盘数据通路可靠性的方法，其特征在于，所述错误处理包括以下步骤：

对主机发出的命令重新生成，并对重新生成的命令进行校验；

判断重新生成的命令校验是否通过；

若是通过，将返回执行步骤“判断主机发出的命令是否为写命令”；

若未通过，则传递给主机，设备出现了错误的提示，主机对设备进行复位。

5.提升固态硬盘数据通路可靠性的装置，其特征在于，包括：接收单元，第一判断单元，取出增加存储传递单元，更新传递单元，第一取出校验单元，第二判断单元，写入单元，及处理单元；

所述接收单元，用于NVMe接收主机发出的命令；

所述第一判断单元，用于判断主机发出的命令是否为写命令；

所述取出增加存储传递单元，用于NVMe将待写入数据从主机取出，并对待写入数据增加校验位，将增加校验位后的待写入数据存储至DRAM，同时将写命令传递至FTL；

所述更新传递单元，用于FTL根据写命令更新映射表，并将写命令传递至NFC；

所述第一取出校验单元，用于NFC从DRAM中取出待写入数据，并对待写入数据进行校验；

所述第二判断单元，用于判断待写入数据校验是否通过；

所述写入单元，用于将待写入数据写入闪存中；

所述处理单元，用于对主机发出的命令进行错误处理；

其中，NVMe对每笔从主机到DRAM的数据，即待写入数据，均调用校验模块，在写入DRAM时加入校验比特，具体开销由校验算法决定；校验算法为奇偶校验算法、汉明校验算法、MD5校验算法、异或校验算法、循环冗余校验算法的其中一种，校验位为校验比特，其比特大小根据实际需要进行设定；其中，NFC从DRAM中取出待写入数据时，调用校验模块进行检错，使用同一校验算法对该笔数据重新进行校验，再跟DRAM中已有的校验比特进行对比。