[发明专利]GIS设备漏气气室年漏气率速测装置和方法

说明书

本发明公开了一种GIS设备漏气气室年漏气率速测装置和方法，所述装置包括集气罩、进气导管、三通电磁阀、数据变送单元、出口电磁阀和控制电路，集气罩通过进气导管与三通电磁阀输入端相连，三通电磁阀常闭端与数据变送单元入口端连接，三通电磁阀常开端空置，数据变送单元出口端与出口电磁阀输入端相连接，出口电磁阀输出端空置，数据变送单元用于将采样信号转化为控制电路可识别处理的电信号，控制电路连接三通电磁阀和出口电磁阀。本发明速测装置可有效缩短年漏气率测量耗时，提高测量效率和测量精度。

技术领域

本发明属于电力技术领域，具体涉及一种GIS设备漏气气室年漏气率速测装置和方法。

背景技术

GIS是气体绝缘金属封闭开关设备的简称，由断路器、隔离开关、互感器和母线等组成，这些设备全部封闭在金属接地的外壳中，并在其内部充以一定压力的SF6绝缘气体，也称SF6全封闭组合电器。GIS设备具有运行可靠性高、维护工作量少以及检修周期长等优点，但由于产品质量、生产工艺、设备老化等原因，运行数年后部分气室出现漏气缺陷，室外设备因风吹、日晒、雨淋，漏气缺陷往往更加严重，设备气室压力的降低可造成保护动作、设备停运，甚至绝缘降低、气室爆炸等恶性后果。GIS的全密封结构导致检修工作耗时长，停电范围大，常波及非故障气室或间隔，设备不易停电。《国家电网公司变电检测通用管理规定》要求GIS设备年漏气率Fy≤0.5％，因此针对年漏气率符合要求的设备，一般在气室压力低于额定值时进行补气即可，对于年漏气率Fy＞0.5％的设备，需加强巡视，及时补气或进行堵漏处理。

GIS设备漏气气室的年漏气率是处理漏气缺陷的主要依据，是制定缺陷处理方案的重要数据支撑，GIS漏气缺陷的主要类型有裂纹、沙眼、螺栓缝、注胶孔、法兰或盆式绝缘子对接面等，针对各种缺陷，目前测算年漏气率的主要方法有扣罩法、局部包扎法、压力降法和挂瓶法。扣罩法是将气室置于封闭的塑料罩或金属罩内，经过一定时间(一般为24h)后，用SF6定量检漏仪测定罩内气体浓度，根据已知的罩体体积、扣罩时间、常温常压(20℃、一个标准大气压)下SF6密度和气室内SF6总质量，计算出年漏气率Fy，该方法操作复杂，耗时长，效率低；局部包扎法是用塑料薄膜将漏气部位局部包扎成一定几何形状(尽可能为圆形或方形以利于估算体积)，经过一定时间(一般为24h)后，用SF6定量检漏仪测定包扎腔内气体浓度，根据估算的包扎腔体积、已知的包扎时间、常温常压下SF6密度和气室内SF6总质量，计算出年漏气率Fy，该方法误差大，耗时长；压力降法是先测定压降前的SF6气体压力数据并换算成常温常压下压力P1，经过一段较长的时间间隔(3至6个月)后，再测定压降后的SF6气体压力数据并换算成常温常压下压力P2，根据SF6气室在一定时间间隔内的压力改变计算漏气率，该方法测量效率太低；挂瓶法是用软胶管连接漏气点及挂瓶，经过一定时间(一般为24h)后，用SF6定量检漏仪测定挂瓶内气体浓度，根据已知的挂瓶体积、挂瓶时间、常温常压下SF6密度和气室内SF6总质量，计算出年漏气率Fy，该方法测量时间长，效率不高。

专利号为201610446204.7的中国发明专利申请公布了一种测量电气设备内气体漏气率的封闭装置及测量方法，包括高分子聚合物基材，沿高分子聚合物基材的长度方向两侧贴合的具有预设厚度的粘性材料；所述高分子聚合物基材的表面印有固定边长的方格网状图形；所述高分子聚合物基材和粘性材料能够分离后单独使用；该发明还公开了该装置的测量方法，即局部包扎法测漏气率。相比传统的局部包扎法，该发明在体积估算环节有一定改进，但仍存在测量误差大，测量耗时长的不足之处。