[发明专利]高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统及方法

权利要求书

1.一种高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统，其特征在于：包括离轴抛物面镜(1)、折轴镜(2)、毛玻璃(3)、取样镜(4)、会聚透镜(5)、CCD探测器(6)、模拟激光器(7)和靶标切换导轨(8)；

所述折轴镜(2)和毛玻璃(3)依次设置于离轴抛物面镜(1)的会聚光路上；

所述取样镜(4)、会聚透镜(5)和CCD探测器(6)依次设置于离轴抛物面镜(1)的准直光路上；

所述模拟激光器(7)和所述毛玻璃(3)均设置于所述靶标切换导轨(8)上，所述靶标切换导轨(8)通过经折轴镜(2)反射的离轴抛物面镜(1)焦点处，可以使模拟激光器(7)和毛玻璃(3)通过在靶标切换导轨(8)上移动，分别位于离轴抛物面镜(1)焦点处。

2.根据权利要求1所述的高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统，其特征在于：所述离轴抛物面镜(1)的焦距为1000mm、有效通光口径为

3.根据权利要求1所述的高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统，其特征在于：所述折轴镜(2)的有效通光口径为

4.根据权利要求1所述的高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统，其特征在于：所述毛玻璃(3)表面均镀抗强激光损伤膜，抗激光损伤阈值为≥300MW/cm²。

5.根据权利要求4所述的高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统，其特征在于：所述毛玻璃(3)的有效通光口径为

6.根据权利要求1所述的高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统，其特征在于：所述模拟激光器(7)为波长为1.064um的半导体激光器，其连续工作2小时功率不稳定性为3％。

7.根据权利要求1所述的高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统，其特征在于：所述CCD探测器(6)的工作谱段为0.4um-1.1um、帧频最大为200Hz。

8.一种利用权利要求1至7任一所述高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统进行光轴一致性测量的方法，其特征在于，包含以下步骤：

1)测量发射光轴坐标位置

利用靶标切换导轨(8)将毛玻璃(3)置于经折轴镜(2)反射的离轴抛物面镜(1)的焦点处，被测高功率脉冲激光测距机(9)发射的高功率脉冲激光，经离轴抛物面镜(1)会聚、折轴镜(2)反射后到达毛玻璃(3)，毛玻璃(3)将高功率脉冲激光进行衰减和散射，少部分散射激光经折轴镜(2)反射、离轴抛物面镜(1)准直、取样镜(4)取样反射、会聚透镜(5)透射后进入CCD探测器(6)，CCD探测器(6)将入射激光会聚到CCD探测器(6)的焦面处，提取会聚光斑的质心，将其标记为发射光轴坐标；

2)测量接收光轴坐标位置

利用靶标切换导轨(8)将模拟激光器(7)切换到经折轴镜(2)反射的离轴抛物面镜(1)的焦点处，模拟激光经折轴镜(2)反射、离轴抛物面镜(1)准直后被所述被测高功率脉冲激光测距机(9)自身接收天线携带的探测器接收，探测器将入射激光会聚到探测器的焦面处，提取会聚光斑的质心，将其标记为接收光轴坐标位置；

3)计算发射光轴与接收光轴的一致性偏差

利用步骤1)获取的发射光轴坐标位置和步骤2)获取的接收光轴坐标位置，计算被测高功率脉冲激光测距机(9)发射光轴与接收光轴的一致性偏差。