[发明专利]一种发端IQ不平衡参数的估计方法及装置有效
| 申请号: | 202010239225.8 | 申请日: | 2020-03-30 |
| 公开(公告)号: | CN111614586B | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
| 发明(设计)人: | 吕毅;赵辉;张诚 | 申请(专利权)人: | 北京瀚诺半导体科技有限公司 |
| 主分类号: | H04L25/03 | 分类号: | H04L25/03;H04L27/00 |
| 代理公司: | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人: | 付婧 |
| 地址: | 100081 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 发端 iq 不平衡 参数 估计 方法 装置 | ||
1.一种发端IQ不平衡参数的估计方法,其特征在于,所述方法包括:
利用被测设备发射机发出扫频信号;
对所述扫频信号进行采集,获取扫频接收信号;
计算所述扫频接收信号中各扫频频点时域信号的实部和虚部相关值,所述相关值包括实部自相关值、虚部自相关值以及实部虚部互相关值;
基于所述实部和虚部相关值进行计算,生成被测设备的发端IQ不平衡参数,所述发端IQ不平衡参数包括IQ延迟不平衡参数、IQ相位不平衡参数和IQ幅度不平衡参数;
其中,所述基于所述实部和虚部相关值进行计算,生成被测设备的发端IQ不平衡参数,包括:
基于所述实部自相关值、虚部自相关值以及实部虚部互相关值计算各扫频频点的幅度参数和相位参数;
对所述各扫频频点的幅度参数进行求平均值操作,生成所述IQ幅度不平衡参数;
对所述各扫频频点的相位参数进行直线拟合操作,生成直线斜率参数和截距参数,斜率参数为所述IQ延迟不平衡参数,截距参数为所述IQ相位不平衡参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述扫频信号是指相位连续的一系列已知频率的单频信号。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述扫频信号进行采集的设备不存在收端IQ不平衡,或该设备收端IQ不平衡相对于被测设备的发端IQ不平衡可以忽略不计。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在计算所述相关值之前,还包括:
对所述扫频接收信号进行载波频率偏差估计,并根据估计结果对所述扫频接收信号进行载波频率偏差校准。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述各扫频频点的幅度参数的计算方法为:
方法1:或
方法2:
其中,ωk为第k个扫频频点对应的归一化角频率,G(ωk)为所述扫频频点ωk对应的幅度参数,RII(ωk)为所述扫频频点ωk对应的实部自相关值,RQQ(ωk)为所述扫频频点ωk对应的虚部自相关值。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述各扫频频点的相位参数的计算方法为:
方法1:或
方法2:
其中,ωk为第k个扫频频点对应的归一化角频率,Φ(ωk)为所述扫频频点ωk对应的相位参数,RII(ωk)为所述扫频频点ωk对应的实部自相关值,RQQ(ωk)为所述扫频频点ωk对应的虚部自相关值,RIQ(ωk)为所述扫频频点ωk对应的实部虚部互相关值。
7.一种发端IQ不平衡参数的估计装置,其特征在于,所述装置包括:
信号获取模块,用于采集被测设备发射机发出的扫频信号,获取扫频接收信号;
相关值计算模块,用于计算所述扫频接收信号对应的各扫频频点时域信号的实部和虚部相关值,所述相关值包括实部自相关值、虚部自相关值以及实部虚部互相关值;
参数生成模块,用于基于所述实部和虚部相关值进行计算,生成被测设备的发端IQ不平衡参数,所述发端IQ不平衡参数包括IQ延迟不平衡参数、IQ相位不平衡参数和IQ幅度不平衡参数;其中,所述参数生成模块具体用于:
基于所述实部自相关值、虚部自相关值以及实部虚部互相关值计算各扫频频点的幅度参数和相位参数;
对所述各扫频频点的幅度参数进行求平均值操作,生成所述IQ幅度不平衡参数;
对所述各扫频频点的相位参数进行直线拟合操作,生成直线斜率参数和截距参数,斜率参数为所述IQ延迟不平衡参数,截距参数为所述IQ相位不平衡参数。
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