[发明专利]具有改进的光电均匀性的电吸收调制器在审

专利信息
申请号: 202010225273.1 申请日: 2020-03-26
公开(公告)号: CN113050304A 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: J·帕克 申请(专利权)人: 瞻博网络公司
主分类号: G02F1/015 分类号: G02F1/015;G02F1/017
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 酆迅
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 改进 光电 均匀 吸收 调制器
【说明书】:

本公开的各实施例涉及具有改进的光电均匀性的电吸收调制器。公开了一种集成的电吸收调制器(EAM),其被构造和/或操作以改进沿有源区的光电流密度的均匀性。在各种实施例中,这种改进是由于增加了EAM的后部处的光吸收,例如是通过加热后部区、增加跨EAM施加朝向后部的偏置电压,或改变朝向后部的本征层的材料组成而实现的。在另一实施例中,通过使用波导的锥形区段和EAM之间的重叠,沿着EAM的长度连续地将来自波导的光耦合到EAM有源区中来实现该改进。

技术领域

本公开涉及电吸收调制器(EAM)中的性能改进。

背景技术

通常用电吸收调制器(EAM)来实现电信应用中的光信号的强度调制。EAM是半导体器件,其光吸收特性可以通过施加电场来改变,从而允许将传入的高速电压信号转换为高速光信号。与激光二极管集成来提供光输入,EAM可以在光子集成电路(PIC)内形成光数据发射器。在操作器件,EAM会经受自热,这可能导致性能下降。

附图说明

图1A是示例EAM的示意性俯视图;

图1B是穿过图1A的EAM的有源区的示意性截面图;

图1C是穿过邻近该有源区的图1A的EAM的区的示意性截面图;

图1D是用于图1A至图1C的EAM的简化概念电路图;

图1E是用于图1A至图1C的EAM的概念电路图,图1E通过三个并联区段来代表EAM二极管;

图2是与图1A至图1E中所示的示例EAM相关联的不均匀光电流密度的图;

图3A是根据第一实施例的在后部端包括加热器的示例EAM的示意性俯视图;

图3B和图3C是在沿着加热器的两个位置处穿过加热器区的图3A的EAM的示意性截面图,图示了根据一个示例的到加热器的电连接;

图3D是在加热器区中的图3A的EAM的详细俯视图,图示了根据一个示例的加热器配置;

图3E是用于图3A至图3D的EAM的概念性电路图;

图4A是根据第二实施例的具有多个偏置电压的示例EAM的示意性俯视图;

图4B是穿过电接触区的图4A的EAM的示意性截面图;

图4C是穿过电隔离区的图4A的EAM的示意性截面图;

图4D是用于图4A至图4C的EAM的概念性电路图;

图5A是根据第三实施例在具有变化的材料组成的示例EAM的有源区前部的示意性截面图;

图5B是在图5A的示例EAM的有源区的中部的示意性截面图;

图5C是在图5A的示例EAM的有源区的后部的示意性截面图;

图5D是用于图5A至图5C的EAM的概念性电路图;

图6是图示了根据第三实施例的制造具有变化的材料组成的EAM二极管的步骤的一系列晶片俯视图;

图7A是根据第四实施例的示例EAM的示意性俯视图,该示例EAM的有源区与将光耦合到EAM二极管中的波导的锥形区重叠;

图7B是在有源区前部的图7A的EAM的示意性截面图;

图7C是在有源区后部的图7A的EAM的示意性截面图;

图8是根据各种实施例的校准EAM的操作设置点的方法的流程图;

图9A是沿着示例的常规EAM的温度和归一化光电流密度的图;以及

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