[发明专利]具有改进的光电均匀性的电吸收调制器在审
申请号: | 202010225273.1 | 申请日: | 2020-03-26 |
公开(公告)号: | CN113050304A | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | J·帕克 | 申请(专利权)人: | 瞻博网络公司 |
主分类号: | G02F1/015 | 分类号: | G02F1/015;G02F1/017 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 酆迅 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 改进 光电 均匀 吸收 调制器 | ||
本公开的各实施例涉及具有改进的光电均匀性的电吸收调制器。公开了一种集成的电吸收调制器(EAM),其被构造和/或操作以改进沿有源区的光电流密度的均匀性。在各种实施例中,这种改进是由于增加了EAM的后部处的光吸收,例如是通过加热后部区、增加跨EAM施加朝向后部的偏置电压,或改变朝向后部的本征层的材料组成而实现的。在另一实施例中,通过使用波导的锥形区段和EAM之间的重叠,沿着EAM的长度连续地将来自波导的光耦合到EAM有源区中来实现该改进。
技术领域
本公开涉及电吸收调制器(EAM)中的性能改进。
背景技术
通常用电吸收调制器(EAM)来实现电信应用中的光信号的强度调制。EAM是半导体器件,其光吸收特性可以通过施加电场来改变,从而允许将传入的高速电压信号转换为高速光信号。与激光二极管集成来提供光输入,EAM可以在光子集成电路(PIC)内形成光数据发射器。在操作器件,EAM会经受自热,这可能导致性能下降。
附图说明
图1A是示例EAM的示意性俯视图;
图1B是穿过图1A的EAM的有源区的示意性截面图;
图1C是穿过邻近该有源区的图1A的EAM的区的示意性截面图;
图1D是用于图1A至图1C的EAM的简化概念电路图;
图1E是用于图1A至图1C的EAM的概念电路图,图1E通过三个并联区段来代表EAM二极管;
图2是与图1A至图1E中所示的示例EAM相关联的不均匀光电流密度的图;
图3A是根据第一实施例的在后部端包括加热器的示例EAM的示意性俯视图;
图3B和图3C是在沿着加热器的两个位置处穿过加热器区的图3A的EAM的示意性截面图,图示了根据一个示例的到加热器的电连接;
图3D是在加热器区中的图3A的EAM的详细俯视图,图示了根据一个示例的加热器配置;
图3E是用于图3A至图3D的EAM的概念性电路图;
图4A是根据第二实施例的具有多个偏置电压的示例EAM的示意性俯视图;
图4B是穿过电接触区的图4A的EAM的示意性截面图;
图4C是穿过电隔离区的图4A的EAM的示意性截面图;
图4D是用于图4A至图4C的EAM的概念性电路图;
图5A是根据第三实施例在具有变化的材料组成的示例EAM的有源区前部的示意性截面图;
图5B是在图5A的示例EAM的有源区的中部的示意性截面图;
图5C是在图5A的示例EAM的有源区的后部的示意性截面图;
图5D是用于图5A至图5C的EAM的概念性电路图;
图6是图示了根据第三实施例的制造具有变化的材料组成的EAM二极管的步骤的一系列晶片俯视图;
图7A是根据第四实施例的示例EAM的示意性俯视图,该示例EAM的有源区与将光耦合到EAM二极管中的波导的锥形区重叠;
图7B是在有源区前部的图7A的EAM的示意性截面图;
图7C是在有源区后部的图7A的EAM的示意性截面图;
图8是根据各种实施例的校准EAM的操作设置点的方法的流程图;
图9A是沿着示例的常规EAM的温度和归一化光电流密度的图;以及
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