[发明专利]一种解决STT-RAM缓存写失败的方法有效

专利信息
申请号: 202010214371.5 申请日: 2020-03-24
公开(公告)号: CN111580750B 公开(公告)日: 2022-08-23
发明(设计)人: 章铁飞 申请(专利权)人: 浙江工商大学
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06;G06F11/10;G06F15/78
代理公司: 杭州天欣专利事务所(普通合伙) 33209 代理人: 梁斌
地址: 310018 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 解决 stt ram 缓存 失败 方法
【权利要求书】:

1.一种解决STT-RAM缓存写失败的方法,其特征在于:包括如下步骤:

S1、发起写数据操作时,确定将写的目标缓存块后,读出目标缓存块的旧数据按位与新数据比较后,计算统计当前数据位对应的STT-RAM单元将发生0到1的切换的数据位数n;

S2、比较n与阀值Kth,如果n大于Kth,则采用扩展纠错码进行纠错,如果n小于等于Kth,则采用默认纠错码进行纠错;

计算阀值Kth时,系统允许缓存块写失败发生的概率上限为e,缓存块纠错码的纠错能力为k个数据位,缓存块出现写失败数据位数为m,m大于k时,当前的写操作失败,因此写操作的失败概率为,要满足:

,

由于默认纠错码采用1位纠错,因此取k=1,根据切诺夫概率公式,计算得到满足的最小m值就是Kth

S3、写缓存块时,设置目标缓存块标签的标志位,标识目标缓存块的纠错码类型;

S4、读取缓存块数据时,同时读取缓存块标签的标志位,根据标志位确定所采用的纠错码类型,将缓存块发往对应的纠错码解码器纠错。

2.根据权利要求1所述的解决STT-RAM缓存写失败的方法,其特征在于:计算统计当前数据位对应的STT-RAM单元将发生0到1的切换的数据位数n的步骤为:读取目标缓存块中的旧数据,取反该旧数据,再与对应的新数据按位进行与运算,如果输出值为1,表示当前数据位对应的STT-RAM单元发生0到1的切换,每一位的输出再作为汉明距离计算器的输入,汉明距离计算器的输出就是当前数据位对应的STT-RAM单元发生0到1的切换的总数据位数n。

3.根据权利要求1所述的解决STT-RAM缓存写失败的方法,其特征在于:所述的默认纠错码和扩展纠错码都面向64Byte大小的缓存块,其中默认纠错码采用1位纠错、2位检错的SECDED码,所占数据长度为11位;扩展纠错码采用4位纠错、5位检错的4EC5ED码,所占数据长度为41位。

4.根据权利要求1所述的解决STT-RAM缓存写失败的方法,其特征在于:对于扩展纠错码,系统允许的缓存块发生写失败的概率上限为e,缓存块的纠错能力为k个数据位,缓存块出现写失败数据位数为m,则写操作的失败概率为,要满足:

,

针对缓存块的大小是64Bytes,根据切诺夫概率公式,计算得到的k的最大值为4;要满足系统的要求,最坏情况下,扩展纠错码只要具备纠正4位出错数据的能力即可。

5.根据权利要求1所述的解决STT-RAM缓存写失败的方法,其特征在于:对于默认纠错码和扩展纠错码,缓存块中实际更新的数据位要小于缓存块512位的容量,大部分缓存块的写失败数据位数小于等于1;缓存组中80%的缓存块能分配默认纠错码,20%的缓存块能分配扩展纠错码。

6.根据权利要求1所述的解决STT-RAM缓存写失败的方法,其特征在于:步骤S3的具体步骤为:当目标缓存块当前数据位对应的STT-RAM单元发生0到1的切换的总数据位数n大于Kth时,目标缓存块采用扩展纠错码,新数据发往扩展纠错码编码器生成纠错码,同时设置缓存块标签的标志位值为1;当目标缓存块当前数据位对应的STT-RAM单元发生0到1的切换的总数据位数n小于等于Kth时,目标缓存块采用默认纠错码,新数据发往默认纠错码编码器生成纠错码,同时设置缓存块标签的标志位值为0。

7.根据权利要求1所述的解决STT-RAM缓存写失败的方法,其特征在于:步骤S4中,如果标志位的值为0,发往数据到默认纠错码解码器纠正可能的出错数据位;如果标志位的值为1,发送数据到扩展纠错码解码器纠正可能的出错数据位。

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