[发明专利]一种基于改进的可变形部件模型的矩形引脚芯片定位方法

说明书

一种基于改进的可变形部件模型的矩形引脚芯片定位方法，涉及图像处理技术领域，针对现有技术中的定位方法无法准确的定位出带有形变的矩形引脚芯片的问题，包括步骤一：获取芯片区域图像；步骤二：对图像中引脚区域进行提取，得到初步筛选的潜在引脚区域；步骤三：得到芯片整体模型的分数，进而在局部位置搜索最优的形变；步骤四：根据步骤三中获得的局部位置最优形变及芯片整体模型的分数，通过非最大化抑制方法判断局部最大值，进而判断图片中芯片的位置。本发明首先从芯片图片中提取潜在引脚区域及其参数，然后在局部位置上搜索芯片形变，最后在全图片上搜索芯片形变。本发明可以准确的定位出带有形变的矩形引脚芯片，抗干扰能力强。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，具体为一种基于改进的可变形部件模型的矩形引脚芯片定位方法。

背景技术

随着电子元器件向着微小化发展，机器视觉检测技术在各个领域得到了广泛的应用。对于芯片检测行业而言，由于芯片的高度集成化，芯片之间的间距越来越小，中心检测与引脚定位的难度越来越大，精度要求也越来越高，对芯片引脚进行准确的定位显得十分重要，利用一种高精度的技术对芯片引脚进行定位是急需解决的问题。现有针对引脚芯片的定位方法无法准确的定位出带有形变的矩形引脚芯片。

发明内容

本发明的目的是：针对现有技术中的定位方法无法准确的定位出带有形变的矩形引脚芯片的问题，提出一种基于改进的可变形部件模型的矩形引脚芯片定位方法。

本发明为了解决上述技术问题采取的技术方案是：

一种基于改进的可变形部件模型的矩形引脚芯片定位方法，包括以下步骤：

步骤一：获取芯片区域图像；

步骤二：对图像中引脚区域进行提取，得到初步筛选的潜在引脚区域；

步骤三：首先通过带旋转角度的滑动窗口法，在芯片图像中确定多个带有旋转角度的检测位置，其次根据带有旋转角度的检测位置确定引脚的理想位置，然后根据引脚的理想位置与初步筛选的潜在引脚区域逐个判断是否重叠，若重叠则该区域为对应引脚模型的形变实例，之后计算引脚模型的分数和根模型的分数，从而得到芯片整体模型的分数，进而在局部位置搜索最优的形变；

步骤四：根据步骤三中获得的局部位置最优形变及芯片整体模型的分数，通过非最大化抑制方法判断局部最大值，进而判断图片中芯片的位置。

进一步的，所述步骤二的具体步骤为：

步骤二一：采用基于高斯混合模型的图像分割算法对输入图像进行图像分割，并在芯片图像中提取潜在引脚像素；

步骤二二：基于图像分割的结果，利用联通区域标记算法对潜在引脚像素进行标记，获得联通的区域，并将联通的区域作为潜在引脚区域；

步骤二三：根据步骤二二得到的潜在引脚区域，估计其带有旋转角度的外接矩形；

步骤二四：提取潜在引脚区域的参数，所述参数包括：尺寸和矩形度；

步骤二五：在潜在引脚区域中，剔除尺寸过小或矩形度过小的区域，得到初步筛选的潜在引脚区域。

进一步的，所述矩形度的公式为：

其中，A_region为联通区域的面积，A_rectangle为有旋转角度的外接矩形的面积。

进一步的，所述对应引脚模型的形变实例通过引脚搜索金字塔得到，所述引脚搜索金字塔包含四层区域，所述四层区域为无旋转芯片级搜索区域、有旋转芯片级搜索区域、引脚组级搜索区域和引脚级搜索区域；