[发明专利]一种用于动平台的强光干扰下高精度位姿测量方法有效

专利信息
申请号: 202010057331.4 申请日: 2020-01-17
公开(公告)号: CN111207735B 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 麻彦轩;甘志超 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所;中航高科智能测控有限公司;北京瑞赛长城航空测控技术有限公司
主分类号: G01C21/00 分类号: G01C21/00;G01C1/00
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 陈宏林
地址: 100022 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 平台 强光 干扰 高精度 测量方法
【权利要求书】:

1.一种用于动平台的强光干扰下高精度位姿测量方法,其特征在于:该方法的步骤如下:

步骤一、在被测动平台(1)上布置两组信标,小区域信标(2)和位姿解算信标(3),每组信标的发光体(6)的数量不少于3个且不能处于同一条直线上,其中,小区域信标(2)的每两个发光体(6)间的距离为30cm~50cm,位姿解算信标(3)分置在被测动平台(1)边缘处且尽可能分散;

步骤二、在测量平台(7)上设置两个短焦图像采集相机(5)形成立体视觉用于拍摄位姿解算信标(3),在测量平台(7)上设置两个长焦图像采集相机(4)形成立体视觉用于拍摄小区域信标(2),两个短焦图像采集相机(5)形成的立体视觉与两个长焦图像采集相机(4)形成的立体视觉采用外触发方式同步采集;

步骤三、对小区域信标(2)的发光体(6)进行时序轮循控制亮灭,将两个长焦图像采集相机(4)的采集图像通过卡尔曼滤波算法实现发光体(6)的同名匹配,并在一个轮循周期结束时计算出每个发光体(6)的三维坐标Ⅰ;

步骤四、依据已知的所有发光体(6)之间的距离信息和每一个小区域信标(2)的发光体(6)的三维坐标Ⅰ,建立小区域信标(2)的每个发光体(6)与位姿解算信标(3)中每个发光体(6)之间的距离方程,计算出位姿解算信标(3)中每个发光体(6)的过渡三维坐标,反投影出位姿解算信标(3)中每个发光体(6)像面坐标(uij,vij),确定出位姿解算信标(3)中每个发光体(6)的像面坐标搜索区域Region(Sij),其中i=1,2,代表短焦图像采集相机(5)的第i个相机,j=1,2,3,4,...n,n≥3,代表第j个 发光体;

步骤五、在两个短焦图像采集相机(5)拍摄的发光信标图像上,在每一个与像面坐标搜索区域Region(Sij)相对应的范围内进行图像增强,弱化该范围内的光线干扰,增强位姿解算信标(3)中发光体(6)的细节特征,得到增强后的图像;

步骤六、采用距离最近原则,在步骤五得到图像中的所述范围内,识别出两个短焦图像采集相机(5)拍摄的每个发光体(6),并进行匹配,解算出每个位姿解算信标(3)中每个发光体(6)的三维坐标Ⅱ;

步骤七、建立被测动平台(1)坐标系m,定义被测动平台(1)的三个姿态角:俯仰角α、偏航角β、横滚角γ,依据步骤六中求得的三维坐标Ⅱ求解被测动平台姿态角。

2.根据权利要求1所述的用于动平台的强光干扰下高精度位姿测量方法,其特征在于:每组信标的发光体(6)的数量为3。

3.根据权利要求1所述的用于动平台的强光干扰下高精度位姿测量方法,其特征在于:所述发光体(6)为近红外LED灯。

4.根据权利要求1所述的用于动平台的强光干扰下高精度位姿测量方法,其特征在于:所述长焦图像采集相机(4)的焦距为36mm,所述短焦图像采集相机(5)的焦距为8mm。

5.根据权利要求1所述的用于动平台的强光干扰下高精度位姿测量方法,其特征在于:小区域信标(2)的发光体(6)轮循周期为20ms。

6.根据权利要求1所述的用于动平台的强光干扰下高精度位姿测量方法,其特征在于:位姿解算信标(3)中每个发光体(6)的像面坐标搜索区域Region(Sij)是以(uij,vij)为中心,x方向取值为uij-50到uij+50个像素,y方向取值为Vij-50到Vij+50个像素。

7.根据权利要求1所述的用于动平台的强光干扰下高精度位姿测量方法,其特征在于:小区域信标(2)的每两个发光体(6)间的距离为30cm。

8.根据权利要求1所述的用于动平台的强光干扰下高精度位姿测量方法,其特征在于:被测动平台(1)的位姿测量频率要求为50Hz。

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