[发明专利]一种钨掺杂二氧化钒薄膜及其制备方法和应用在审
申请号: | 202010017835.3 | 申请日: | 2020-01-08 |
公开(公告)号: | CN111116050A | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
发明(设计)人: | 刘保顺;张军 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | C03C17/245 | 分类号: | C03C17/245;C23C14/18;C23C14/35;C23C14/58 |
代理公司: | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 | 代理人: | 赵泽夏 |
地址: | 430070 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 掺杂 氧化 薄膜 及其 制备 方法 应用 | ||
1.一种钨掺杂二氧化钒薄膜,其特征在于,所述钨掺杂二氧化钒薄膜的膜厚为20~40nm,相变温度为25~45℃,可见光透过率为50~60%。
2.根据权利要求1所述钨掺杂二氧化钒薄膜,其特征在于,所述钨掺杂二氧化钒薄膜的膜厚为20~30nm,相变温度为25~35℃。
3.一种如权利要求1或2所述钨掺杂二氧化钒薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
采用双靶磁控溅射在基底表面形成钨掺杂钒薄膜;
将所述钨掺杂钒薄膜进行退火处理,得到钨掺杂二氧化钒薄膜。
4.根据权利要求3所述钨掺杂二氧化钒薄膜的制备方法,其特征在于,所述基底为FTO玻璃、石英玻璃、蓝宝石或云母片中的一种。
5.根据权利要求3所述钨掺杂二氧化钒薄膜的制备方法,其特征在于,所述双靶磁控溅射的过程具体为:将所述基底置于磁控溅射真空室中,以钒靶和钨靶作为靶材,通入氩气,对所述钒靶和钨靶进行预溅射和共溅射。
6.根据权利要求5所述钨掺杂二氧化钒薄膜的制备方法,其特征在于,所述预溅射的过程中,真空室的真空度为1.5×10-3~3.2×10-3Pa,所述氩气的通量为180~250sccm,预溅射工作气压为0.1~1.0pa,所述钒靶的直流磁控溅射功率为65~105W,所述钨靶的射频磁控溅射功率为8~15W,所述预溅射的时间为10~30min。
7.根据权利要求5所述钨掺杂二氧化钒薄膜的制备方法,其特征在于,所述共溅射的过程中,所述氩气的通量为180~210sccm,沉积工作气压为0.05~0.2pa;所述钒靶的直流磁控溅射功率为105~135W,所述钨靶的射频磁控溅射功率为3~10W,所述共溅射的时间为1~6min。
8.根据权利要求3所述钨掺杂二氧化钒薄膜的制备方法,其特征在于,所述双靶磁控溅射的过程中,所述基底温度为60~120℃。
9.根据权利要求3所述钨掺杂二氧化钒薄膜的制备方法,其特征在于,所述退火处理的过程中,以5~15℃/min的升温速度升温至350~450℃,保温45~100min,随后缓慢冷却至50~70℃。
10.一种如权利要求1或2所述钨掺杂二氧化钒薄膜在智能窗玻璃方面的应用。
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