[发明专利]圆棒的表面缺陷检查方法及表面缺陷检查装置

说明书

提供能够高精度地检测在长度方向上连续的缺陷的圆棒的表面缺陷检查方法及表面缺陷检查装置。将判定区域的代表缺陷信号的高度成为比第一判定基准值低的第二判定基准值以上的判定区域设为第一区域，将判定区域的代表缺陷信号的高度成为第二判定值以上且周向位置与第一区域相等的判定区域设为第二区域，将第一区域与第二区域之间的判定区域设为第三区域。在第一～第三区域的判定区域的数量为规定数以上的情况且在下述情况中的至少一方的情况下，判定为在第一～第三区域的判定区域中存在缺陷：第三区域的判定区域的代表缺陷信号小于第二判定基准值且成为第三判定基准值以上的情况；以及，第三区域的长度方向上的判定区域的数量成为第一区域及第二区域中的至少一方的长度方向上的判定区域的数量以下的情况。

技术领域

本公开涉及圆棒的表面缺陷检查方法及表面缺陷检查装置。

背景技术

在利用漏磁探伤法进行的圆棒钢、钢管等圆形剖面的长条构件(以下，仅称为圆棒)的探伤检查中，有一边在长度方向上搬送圆棒一边使探触头沿着圆棒的周向旋转的检查方法、和一边使圆棒绕轴旋转一边使探触头在圆棒的长度方向上行进的检查方法。在该情况下，在任一检查方法中，都利用漏磁探伤装置的探触头内的探头(探触件)从位于圆棒的表面的缺陷接受缺陷信号，根据该缺陷信号的高度是否为判定基准值以上，判定缺陷的有无。需要说明的是，根据产品所要求的容许缺陷深度预先规定判定基准值。

该两种探伤方法中的使探触头沿着圆棒的周向旋转的检查方法与使探触头在圆棒的长度方向上行进的检查方法相比，由于该检查方法的不同，能够缩短检查所需的时间。因此，从生产效率的观点出发，优选使探触头沿着圆棒的周向旋转的检查方法，在该检查方法中，期望高精度地检测在长度方向上连续的缺陷的技术。

例如，作为圆棒的表面缺陷检查方法，在专利文献1中公开了如下方法：使用在周向上相连的多个测定区域中的缺陷信号的检测结果和作为缺陷信号的高度的判定基准值的第一判定基准值及第二判定基准值，判定表面缺陷的有无。根据专利文献1，能够在周向上的相同位置处检测缺陷宽度较窄且具有长度的缺陷。

另外，在专利文献2中公开了如下方法：对于用与专利文献1相同的方法检测的缺陷信号，将在周向及长度方向上排列的多个测定区域作为判定区域并判定缺陷的有无。根据专利文献2，即使在进行漏磁探伤时圆棒旋转或振动的情况下，也能够高精度地检测在长度方向上连续的缺陷。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第5978889号

专利文献2：日本专利第6451678号

发明内容

发明要解决的课题

然而，在具有由铸件等原料引起的缺陷的情况下，有时会产生断续地缺陷信号的高度变低而成为专利文献1、2中的第二判定基准值以下的连续缺陷。因此，在专利文献1、2记载的表面缺陷检查方法中，难以判定这种连续缺陷。另外，为了能够检测由铸件等原料引起的缺陷而降低成为第二判定基准值的缺陷信号的高度的值时，有可能成为过度检测。

因此，本发明着眼于上述课题而做出，其目的为提供在一边在长度方向上搬送圆棒一边使探触头沿着圆棒的周向旋转的检查方法中能够高精度地检测在长度方向上连续的缺陷的圆棒的表面缺陷检查方法及表面缺陷检查装置。

用于解决课题的手段