[发明专利]圆棒的表面缺陷检查方法及表面缺陷检查装置

权利要求书

1.圆棒的表面缺陷检查方法，其包括：

探伤工序，通过一边在长度方向上搬送圆棒或一边使漏磁探伤装置的探触头在圆棒的长度方向上移动，一边以漏磁探伤装置的探触头沿着所述圆棒的周向旋转的方式使所述探伤头或所述圆棒或所述探伤头和所述圆棒双方旋转，并对所述圆棒的表面上的在所述长度方向及所述周向上分别被划分出的多个测定区域检测漏磁，从而检测缺陷信号；以及

判定工序，对于包含至少一个所述测定区域并在所述周向及所述长度方向上排列的多个判定区域，基于所述判定区域包含的所述测定区域的最大的所述缺陷信号即代表缺陷信号，对在所述圆棒的表面上存在缺陷的情况进行判定，

所述判定工序包含对在所述圆棒的表面上存在所述缺陷的情况进行判定的第一判定工序、第二判定工序及第三判定工序，

在所述第一判定工序中，判定为在所述代表缺陷信号的高度成为第一判定基准值以上的所述判定区域中存在所述缺陷，

在所述第二判定工序中，

将所述判定区域的所述代表缺陷信号的高度成为第二判定基准值以上的一个所述判定区域或在所述长度方向上连续的多个所述判定区域设为第一区域，所述第二判定基准值比所述第一判定基准值低，

在所述第一区域由在所述长度方向上连续的多个所述判定区域构成且所述第一区域的所述判定区域的数量为规定数以上的情况下，判定为在所述第一区域的所述判定区域中存在所述缺陷，

在所述第三判定工序中，

将所述周向上的位置与所述第一区域相等、且所述判定区域的所述代表缺陷信号的高度成为所述第二判定值以上的一个所述判定区域或在所述长度方向上连续的多个所述判定区域设为第二区域，

将所述第一区域与所述第二区域之间的所述判定区域设为第三区域，

在所述第一区域、所述第二区域及所述第三区域的所述判定区域的数量为规定数以上的情况且在下述情况中的至少一方的情况下，判定为在所述第一区域、所述第二区域及所述第三区域的所述判定区域中存在所述缺陷：所述第三区域的所述判定区域的所述代表缺陷信号小于所述第二判定基准值且成为第三判定基准值以上的情况；以及，所述第三区域的所述长度方向上的所述判定区域的数量成为所述第一区域及所述第二区域中的至少一方的所述长度方向上的所述判定区域的数量以下的情况。

2.根据权利要求1所述的圆棒的表面缺陷检查方法，其中，

所述判定区域由在所述周向上相连的多个所述测定区域构成。

3.圆棒的表面缺陷检查装置，其具备：

漏磁探伤装置，所述漏磁探伤装置具有探触头，通过一边在长度方向上搬送圆棒或一边使所述探触头在圆棒的长度方向上移动，一边以所述探触头沿着所述圆棒的周向旋转的方式使所述探伤头或所述圆棒或所述探伤头和所述圆棒双方旋转，并对所述圆棒的表面上的在所述长度方向及所述周向上分别被划分出的多个测定区域检测漏磁，从而检测缺陷信号；以及

判定部，所述判定部对于包含至少一个所述测定区域并在所述周向及所述长度方向上排列的多个判定区域，基于所述判定区域包含的所述测定区域的最大的所述缺陷信号即代表缺陷信号，对在所述圆棒的表面上存在缺陷的情况进行判定，

所述判定部进行对在所述圆棒的表面上存在所述缺陷的情况进行判定的第一判定工序、第二判定工序及第三判定工序，

在所述第一判定工序中，判定为在所述代表缺陷信号的高度成为第一判定基准值以上的所述判定区域中存在所述缺陷，

在所述第二判定工序中，

将所述判定区域的所述代表缺陷信号的高度成为第二判定基准值以上的一个所述判定区域或在所述长度方向上连续的多个所述判定区域设为第一区域，所述第二判定基准值比所述第一判定基准值低，

在所述第一区域由在所述长度方向上连续的多个所述判定区域构成且所述第一区域的所述判定区域的数量为规定数以上的情况下，判定为在所述第一区域的所述判定区域中存在所述缺陷，

在所述第三判定工序中，

将所述周向上的位置与所述第一区域相等、且所述判定区域的所述代表缺陷信号的高度成为所述第二判定值以上的一个所述判定区域或在所述长度方向上连续的多个所述判定区域设为第二区域，

将所述第一区域与所述第二区域之间的所述判定区域设为第三区域，

在所述第一区域、所述第二区域及所述第三区域的所述判定区域的数量为规定数以上的情况且在下述情况中的至少一方的情况下，判定为在所述第一区域、所述第二区域及所述第三区域的所述判定区域中存在所述缺陷：所述第三区域的所述判定区域的所述代表缺陷信号小于所述第二判定基准值且成为第三判定基准值以上的情况；以及，所述第三区域的所述长度方向上的所述判定区域的数量成为所述第一区域及所述第二区域中的至少一方的所述长度方向上的所述判定区域的数量以下的情况。