[发明专利]位置推定装置和位置推定方法有效

专利信息
申请号: 201980070977.1 申请日: 2019-10-24
公开(公告)号: CN112970188B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 石上翔太;藤田淳;德永智久 申请(专利权)人: 日本电产株式会社
主分类号: H02P6/18 分类号: H02P6/18;H02P8/00;H02P23/14
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 曾贤伟;郝庆芬
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 位置 推定 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种位置推定装置,具有:

特征量计算部,其在转子角小于1周的范围内取得转子的3处以上的磁场强度的检测值,从预先确定为所述转子的极对编号的多个分区中,根据所述磁场强度的检测值来选择所述分区,根据与选择出的所述分区对应的所述磁场强度的检测值的组合,计算所述磁场强度的波形的多个特征量;以及

推定部,其按与选择出的所述分区对应起来的段,判定预先学习到的所述多个特征量的大小关系与计算出的所述多个特征量的大小关系是否一致,将与所述大小关系一致的所述段对应起来的所述极对编号推定为所述转子的旋转位置。

2.根据权利要求1所述的位置推定装置,

所述多个特征量是所述磁场强度的波形的各交点的推定值。

3.根据权利要求1或2所述的位置推定装置,

所述位置推定装置还具有校正部,该校正部对所述磁场强度的波形进行校正,

所述特征量计算部计算校正后的所述磁场强度的波形的所述多个特征量。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的位置推定装置,

所述推定部将与预先学习到的所述多个特征量和计算出的所述多个特征量之差为最小的所述段对应起来的所述极对编号推定为所述转子的旋转位置。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的位置推定装置,

所述特征量计算部通过对所述磁场强度的检测值乘以倍率,从而计算所述多个特征量。

6.一种位置推定方法,其由位置推定装置执行,

所述位置推定方法包括:

在转子角小于1周的范围内取得转子的3处以上的磁场强度的检测值,从预先确定为所述转子的极对编号的多个分区中,根据所述磁场强度的检测值来选择所述分区,根据与选择出的所述分区对应的所述磁场强度的检测值的组合,计算所述磁场强度的波形的多个特征量的步骤;以及

按与选择出的所述分区对应起来的段,判定预先学习到的所述多个特征量的大小关系与计算出的所述多个特征量的大小关系是否一致,将与所述大小关系一致的所述段对应起来的所述极对编号推定为所述转子的旋转位置的步骤。

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