[发明专利]获取深度图的方法、装置及计算机存储介质在审
申请号: | 201980031872.5 | 申请日: | 2019-08-29 |
公开(公告)号: | CN112243518A | 公开(公告)日: | 2021-01-19 |
发明(设计)人: | 杨志华;马东东;梁家斌 | 申请(专利权)人: | 深圳市大疆创新科技有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T5/50;G06T7/90 |
代理公司: | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人: | 高伟 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 获取 深度 方法 装置 计算机 存储 介质 | ||
1.一种获取深度图的方法,其特征在于,包括:
获取主图像和目标副图像;
对所述主图像和所述目标副图像进行极线矫正以获取与所述主图像对应的第一校正图像和与所述目标副图像对应的第二校正图像;
确定所述第一校正图像中与所述主图像中的目标像素点对应的图像块和所述第二校正图像中与所述目标副图像中的像素点对应的图像块;
根据所述第一校正图像中与所述主图像中的目标像素点对应的图像块确定所述主图像中的目标像素点的特征信息,根据所述第二校正图像中与所述目标副图像中的像素点对应的图像块确定所述目标副图像中的像素点的特征信息;
根据所述主图像中的目标像素点的特征信息和所述目标副图像中的像素点的特征信息确定所述主图像对应的深度图。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述第一校正图像中与所述主图像中的目标像素点对应的图像块和所述第二校正图像中与所述目标副图像中的像素点对应的图像块,包括:
在所述第一校正图像中确定与所述主图像中的目标像素点匹配的像素点,根据所述匹配的像素点确定所述第一校正图像中与所述主图像中的目标像素点对应的图像块;
在所述第二校正图像中确定与所述目标副图像中的像素点匹配的像素点,根据所述匹配的像素点确定所述第二校正图像中与所述目标副图像中的像素点对应的图像块。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一校正图像中与所述主图像中的目标像素点对应的图像块确定所述主图像中的目标像素点的特征信息,根据所述第二校正图像中与所述目标副图像中的像素点对应的图像块确定所述目标副图像中的像素点的特征信息,包括:
确定与所述主图像中的目标像素点对应的图像块中的像素点在所述主图像中的映射像素点,并将所述主图像中的映射像素点的颜色信息与所述主图像中的目标像素点的颜色信息进行比较,以获取所述主图像中的目标像素点的特征信息;
确定与所述目标副图像中的像素点对应的图像块中的像素点在所述目标副图像图像中的映射像素点,并将所述目标副图像中的映射像素点的颜色信息与所述目标副图像中的像素点的颜色信息进行比较,以获取所述目标副图像中的像素点的特征信息。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述主图像中的目标像素点的特征信息和所述目标副图像中的像素点的特征信息确定所述主图像对应的深度图,包括:
获取多个候选深度指示参数;
根据所述多个候选深度指示参数将所述主图像中的每一个目标像素点对应的物方点投影到所述目标副图像,以在所述目标副图像中的像素点中确定与所述主图像中的目标像素点匹配的多个投影像素点;
根据所述主图像中的目标像素点的特征信息和与所述主图像中的目标像素点匹配的多个投影像素点的特征信息,确定所述主图像中的目标像素点的多个匹配代价;
根据所述主图像中的目标像素点的多个匹配代价,从所述多个候选深度指示参数中确定所述主图像中的目标像素点对应的深度。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取所述主图像对应的深度指示参数的范围;
其中,所述获取多个候选深度指示参数,包括:
在所述深度指示参数的范围内进行采样以获取所述多个候选深度指示参数。
6.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于,所述根据所述主图像中的目标像素点的多个匹配代价,从所述多个候选深度指示参数中确定所述主图像中的目标像素点对应的深度,包括:
从所述主图像中的目标像素点的多个匹配代价中确定最小的匹配代价;
将所述最小的匹配代价对应的候选深度指示参数确定为所述主图像中的目标像素点对应的深度。
7.根据权利要求4-6任一项所述的方法,其特征在于,所述深度指示参数包括深度或者逆深度。
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