[发明专利]电磁波检测装置以及信息获取系统有效
申请号: | 201980025027.7 | 申请日: | 2019-04-02 |
公开(公告)号: | CN111954796B | 公开(公告)日: | 2023-05-02 |
发明(设计)人: | 竹内绘梨;冈田浩希 | 申请(专利权)人: | 京瓷株式会社 |
主分类号: | G01J1/04 | 分类号: | G01J1/04;G01C3/06;G01J1/02;G01J3/36;G01S7/481;G01S17/89;G01J5/48 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 向勇;宋晓宝 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电磁波 检测 装置 以及 信息 获取 系统 | ||
1.一种电磁波检测装置,其中,
具有:
放射部,放射红外线,
分离部,使包含所述放射部放射的红外线被对象反射的反射波的电磁波分离,并使该电磁波沿第二方向和第三方向行进;
第一检测部,检测沿所述第二方向行进的所述电磁波;
行进部,沿着基准面配置有多个像素,针对每个所述像素使向所述第三方向行进而入射至所述基准面的电磁波的行进方向切换为第四方向和第五方向;
第二检测部,检测沿所述第四方向行进的电磁波;以及
遮断部,遮断向所述第五方向行进的电磁波中的至少一部分,
所述第一检测部相对于所述行进部配置在所述第五方向上,
所述分离部使可见光向所述第二方向行进,使所述红外线向所述第三方向行进,
所述行进部使入射的电磁波中的所述反射波向所述第四方向行进,
所述遮断部相对于所述行进部配置在所述第五方向上且配置在所述行进部与所述第一检测部之间,
所述第一检测部是检测可见光的图像传感器,
所述第二检测部检测红外线,构成测距传感器。
2.如权利要求1所述的电磁波检测装置,其中,
所述遮断部吸收、反射向所述第五方向行进的电磁波中的至少一部分,或者使向所述第五方向行进的电磁波中的至少一部分散射。
3.如权利要求1所述的电磁波检测装置,其中,
所述遮断部遮断与向所述第二方向行进的电磁波的波长不同的波长的电磁波。
4.如权利要求1所述的电磁波检测装置,其中,
所述遮断部遮断与向所述第二方向行进的电磁波的波长不同的波长的电磁波。
5.如权利要求1所述的电磁波检测装置,其中,
所述第一检测部相对于所述分离部配置在第二方向上,
所述遮断部相对于所述分离部配置在第二方向上且配置在所述第一检测部与所述分离部之间,所述遮断部使向所述第二方向行进的电磁波向所述第一检测部行进,并且遮断向所述第五方向行进的电磁波向所述第一检测部的行进。
6.如权利要求1所述的电磁波检测装置,其中,
所述遮断部覆盖所述第一检测部的检测面。
7.如权利要求6所述的电磁波检测装置,其中,
所述电磁波检测装置具有光学系统,所述光学系统使向第一方向行进的电磁波在所述行进部以及所述第一检测部上成像。
8.一种信息获取系统,其中,
具有:
权利要求1至7中任一项所述的电磁波检测装置;以及
控制部,基于所述第一检测部和所述第二检测部的电磁波的检测结果,获取与周围相关的信息。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京瓷株式会社,未经京瓷株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201980025027.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。