[发明专利]制造用于射频滤波器的衬底的工艺在审
申请号: | 201980023115.3 | 申请日: | 2019-03-27 |
公开(公告)号: | CN111919282A | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
发明(设计)人: | D·贝拉什米;T·巴尔热 | 申请(专利权)人: | SOITEC公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L41/313;H03H1/00 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制造 用于 射频 滤波器 衬底 工艺 | ||
1.一种制造用于射频滤波器的衬底的工艺,其通过经由电绝缘层(300)将压电层(200、200')接合至载体衬底(100)来制造用于射频滤波器的衬底,其特征在于,所述工艺包括以下步骤:通过在压电层(200、200')的待接合至载体衬底(100)的表面上旋涂属于SOG(旋涂玻璃)族的氧化物来沉积电绝缘层(300),然后在接合之前进行退火以致密化所述电绝缘层。
2.根据前一权利要求所述的工艺,其中,所述压电层(200、200')的厚度大于5μm,优选大于10μm。
3.根据前述权利要求中任一项所述的工艺,其中,所述压电层(200、200')的待接合至载体衬底(100)的表面具有适于反射射频波的粗糙表面。
4.根据前一权利要求所述的工艺,其中,所述压电层(200、200')的粗糙表面的粗糙度大于1μm,优选大于3μm。
5.根据前述权利要求中任一项所述的工艺,其中,所述载体衬底(100)由硅材料制成。
6.根据前述权利要求中任一项所述的工艺,其中,由硅材料制成的载体衬底(100)包括朝向与压电层(200、200')接合的界面的捕获层(400)。
7.根据前述权利要求中任一项所述的工艺,其中,所述压电层(200、200')由铌酸锂或钽酸锂制成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造