[发明专利]测量处理装置、测量处理方法以及程序在审
申请号: | 201980004233.X | 申请日: | 2019-02-28 |
公开(公告)号: | CN111065899A | 公开(公告)日: | 2020-04-24 |
发明(设计)人: | 工藤雅哉 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02;G01D9/00;G01D21/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 韩锋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 处理 装置 方法 以及 程序 | ||
1.一种测量处理装置,其特征在于,具备:
存储部;
第一获取部,其获取从第一设备输出的、表示相对于测量对象物的测量的测量结果的第一信号;
暂时存储部,其存储由所述第一获取部获取的所述第一信号;
第二获取部,其获取从与所述第一设备不同的第二设备输出的第二信号,所述第二信号表示所述测量对象物的位置或与所述测量对象物的位置相对应地变化的变化量;
存储控制部,其在所述存储部存储使所获取的所述第二信号与在所述暂时存储部中存储的所述第一信号相对应的测量信息;
输出控制部,其将在所述存储部中存储的、至少一个所述测量信息向控制装置输出。
2.根据权利要求1所述的测量处理装置,其中,
所述存储控制部响应于由所述第二获取部获取到所述第二信号而将所述测量信息向所述控制装置输出。
3.根据权利要求1所述的测量处理装置,其中,
所述存储控制部响应于由所述第二获取部获取的所述第二信号所示的所述位置达到规定的位置而将所述测量信息向所述控制装置输出。
4.根据权利要求1所述的测量处理装置,其中,
所述存储控制部响应于由所述第二获取部获取的所述第二信号所示的所述变化量达到规定的变化量而将所述测量信息向所述控制装置输出。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的测量处理装置,其中,
所述第二设备是角位置传感器,所述角位置传感器对输送所述测量对象物的输送体的旋转轴的旋转位移量进行测量,
所述第二信号是与所述旋转位移量相对应地从所述角位置传感器输出的数字信号。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的测量处理装置,其中,
进一步具备将所述第一信号从模拟信号转换为数字信号的模拟-数字转换器,
所述暂时存储部存储由所述模拟-数字转换器转换的第一信号。
7.一种测量处理方法,其特征在于,具备:
第一获取步骤,其获取从第一设备输出的、表示相对于测量对象物的测量的测量结果的第一信号;
暂时存储步骤,其存储由所述第一获取步骤获取的所述第一信号;
第二获取步骤,其获取从与所述第一设备不同的第二设备输出的第二信号,所述第二信号表示所述测量对象物的位置或与所述测量对象物的位置相对应地变化的变化量;
存储控制步骤,其在存储部中存储使所获取的所述第二信号与由所述暂时存储步骤存储的所述第一信号相对应的测量信息;
输出控制步骤,其将在所述存储部中存储的、至少一个所述测量信息向控制装置输出。
8.一种程序,其特征在于,用于使计算机执行:
第一获取步骤,其获取从第一设备输出的、表示相对于测量对象物的测量的测量结果的第一信号;
暂时存储步骤,其存储由所述第一获取步骤获取的所述第一信号;
第二获取步骤,其获取从与所述第一设备不同的第二设备输出的第二信号,所述第二信号表示所述测量对象物的位置或与所述测量对象物的位置相对应地变化的变化量;
存储控制步骤,其在存储部中存储使所获取的所述第二信号与由所述暂时存储步骤存储的所述第一信号相对应的测量信息;
输出控制步骤,其将在所述存储部中存储的、至少一个所述测量信息向控制装置输出。
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