[实用新型]一种基于光谱共焦的物体表面三维信息测量系统有效

专利信息
申请号: 201922343390.3 申请日: 2019-12-23
公开(公告)号: CN211012871U 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 王前程;王国安;郑泽鹏;黄碧华;周飞;吴伟锋;孙久春 申请(专利权)人: 海伯森技术(深圳)有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 刘文求
地址: 518100 广东省深圳市宝安区西乡*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 光谱 物体 表面 三维 信息 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种基于光谱共焦的物体表面三维信息测量系统,其特征在于,包括:宽光谱线光源、第一色散透镜组、第二色散透镜组,滤光器、聚焦透镜组、面阵探测器和处理器;

所述宽光谱线光源,用于输出线型宽光谱光束;

所述第一色散透镜组,用于对所述线型宽光谱光束进行轴向色散,并将色散出的含有不同波长的光线聚焦到被测物体表面上;

所述第二色散透镜组,用于接收所述被测物体表面反射的反射光束,并将所述反射光束传输到滤光器;

所述滤光器,位于所述第二色散透镜组的焦平面上,用于接收所述第二色散透镜组透射的反射光束,并过滤出特定波长范围的反射光束;其中,特定波长范围为聚焦在所述被测物体表面上光线的波长范围;

聚焦透镜组,用于接收所述滤光器过滤出的反射光束,并将所述反射光束聚焦到面阵探测器上;

所述面阵探测器,用于接收反射光束,获取所述反射光束的成像位置信息,并将获取的所述成像位置信息传输至处理器;

所述处理器,用于根据所述成像位置信息得到被测物体表面的三维信息。

2.根据权利要求1所述的基于光谱共焦的物体表面三维信息测量系统,其特征在于,所述宽光谱线光源包括:多个光纤组、连接在多个所述光纤组一端的光纤总集束器,和对应连接在各个所述光纤组另一端的光纤分集束器,各个光纤分集束器的一端对应连接有一个LED灯组,各个LED灯组发出的光为宽光谱复色光。

3.根据权利要求2所述的基于光谱共焦的物体表面三维信息测量系统,其特征在于,每个光纤组内设置至少一个光纤,各个光纤组中的光纤在光纤总集束器中交错排列,并且所述各个LED灯组中的LED灯发出的光为宽光谱复色光。

4.根据权利要求3所述的基于光谱共焦的物体表面三维信息测量系统,其特征在于,各个光纤组内若干个光纤在光纤分集束器中的排列方式为线型排列、方阵排列或圆形阵列。

5.根据权利要求1所述的基于光谱共焦的物体表面三维信息测量系统,其特征在于,所述宽光谱线光源包括:多个表面上涂覆有荧光粉层的线型LED晶圆。

6.根据权利要求5所述的基于光谱共焦的物体表面三维信息测量系统,其特征在于,所述宽光谱线光源还包括:基板和柱面镜;

所述线型LED晶圆设置在所述基板上,并且所述线型LED晶圆激发所述荧光粉层发出的光束入射至所述柱面镜,形成线型宽光谱光束。

7.根据权利要求1所述的基于光谱共焦的物体表面三维信息测量系统,其特征在于,所述宽光谱线光源为发出线型激光的激光器,以及设置在所述激光器前方的荧光板,所述激光器发出的线型激光照射到所述荧光板上得到线型宽光谱光束。

8.根据权利要求1-7任一项所述的基于光谱共焦的物体表面三维信息测量系统,其特征在于,所述滤光器为狭缝,所述狭缝设置在所述第二色散透镜组的焦平面上,用于过滤被测物体表面反射出的非聚焦波长的光线。

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