[实用新型]一种冲击试验系统中试样放置位置的检测装置有效
申请号: | 201921650061.7 | 申请日: | 2019-09-29 |
公开(公告)号: | CN210638646U | 公开(公告)日: | 2020-05-29 |
发明(设计)人: | 孙茂杰;孙敬忠;徐海宁;黄晓宾;李梓齐;王广来;姜鑫;张华伟;徐坤 | 申请(专利权)人: | 江苏金恒信息科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/14;G01B17/00;G01N3/30 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 211500 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 冲击 试验 系统 试样 放置 位置 检测 装置 | ||
1.一种冲击试验系统中试样放置位置的检测装置,其特征在于,所述检测装置(200)包括中控装置(201)以及靠近冲击台(101)设置的第一测距仪(202)和第二测距仪(203);所述冲击台在冲击试验系统(100)中用于放置试样(104);
所述第一测距仪(202)朝向所述冲击台(101)的端面,用于测量试样(104)与所述第一测距仪(202)之间的第一距离;
所述第二测距仪(203)朝向所述冲击台(101)的后侧面,用于测量试样(104)与所述第二测距仪(203)之间的第二距离;
所述中控装置(201)分别与所述第一测距仪(202)、所述第二测距仪(203)连接,用于获取所述第一测距仪(202)测量得到的第一距离,以及获取所述第二测距仪(203)测量得到的第二距离,以及根据所述第一距离和所述第二距离,确定试样(104)在所述冲击台(101)上的位置。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述检测装置(200)还包括靠近所述冲击台(101)设置的第三测距仪(204):
所述第三测距仪(204)朝向所述冲击台(101)的后侧面,用于测量试样(104)与所述第三测距仪(204)之间的第三距离;
所述中控装置(201)与所述第三测距仪(204)连接,还用于获取所述第三测距仪(204)测量得到的第三距离,以及根据所述第一距离、所述第二距离和所述第三距离,确定试样(104)在所述冲击台(101)上的位置。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述中控装置(201)还用于获取第一试样分别对应的第一距离、第二距离和第三距离,以及获取第二试样分别对应的第一距离、第二距离和第三距离,比较所述第一试样对应的第一距离和所述第二试样对应的第一距离之间的第一差值,比较所述第一试样对应的第二距离和所述第二试样对应的第二距离之间的第二差值,以及比较所述第一试样对应的第三距离和所述第二试样对应的第三距离之间的第三差值,如果所述第一差值、所述第二差值和所述第三差值均小于预设阈值,则确定所述冲击试验系统(100)中的机械臂重复定位无误。
4.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述第一测距仪(202)、所述第二测距仪(203)和所述第三测距仪(204)均为激光测距仪。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述第一测距仪(202)发射出的激光射到试样(104)的端面,且所述第一测距仪(202)发射出的激光与所述冲击台的顶面平行;
所述第二测距仪(203)发射出的激光射到试样(104)后侧面的一端,且所述第二测距仪(203)发射出的激光与所述冲击台的顶面平行;
所述第三测距仪(204)发射出的激光射到试样(104)后侧面的另一端,且所述第三测距仪(204)发射出的激光与所述冲击台的顶面平行。
6.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述第一测距仪(202)、所述第二测距仪(203)和所述第三测距仪(204)均为超声波测距仪。
7.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述冲击试验系统(100)还包括推块(105),用于将试样(104)推离所述冲击台(101);
所述第二测距仪(203)位于所述推块(105)的一侧,所述第三测距仪(204)位于所述推块(105)的另一侧。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述第二测距仪(203)与所述推块(105)之间的距离和所述第三测距仪(204)与所述推块(105)之间的距离一致。
9.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述第二测距仪(203)与所述冲击台(101)后侧面之间的距离和所述第三测距仪(204)与所述冲击台(101)后侧面之间的距离一致。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的装置,其特征在于,所述冲击台(101)的顶面具有凹槽(1011),所述凹槽(1011)将所述冲击台(101)的顶面分隔为第一平台(1012)和第二平台(1013);所述第一平台(1012)和所述第二平台(1013)的表面均为阶梯状,试样(104)的两端分别与所述第一平台(1012)中较低的阶梯面、所述第二平台(1013)中较低的阶梯面接触。
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